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测量仪R&R,测量仪重复性和再现性

一种统计方法,通过测量测试过程中重复性和再现性的变化来确定测试系统是否可以生产。
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描述

测量仪R&R(测量仪重复性和再现性)已在半导体工业中使用多年,用于测量重复性和再现性测试中的变化。然后使用这些测量来评估测试对生产的适用性。但通常重点是在一个站点上进行合格测试,当使用多站点测试时,才将问题留给生产。一个参数,其中站点2测量不同于其他站点,并给出许多错误的失败,将失败Gage R&R。

*来源:YieldHub

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