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失效分析

找出半导体设计和制造中出现的问题。
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失效分析是为了找出半导体设计和制造过程中出现的问题。在过去的几十年里,不同的方法、工具和设备都得到了改进,最近有了在线监控、新设备来测试和检查更多的并行电路,以及更多的数据分析来发现模式和提高覆盖率。但芯片制造商和系统公司现在更依赖于故障分析,从数字到模拟ic和IP,他们也将其应用于一个封装中的多个设备。

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