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内置自检(BiST)

用于测试设计的片上逻辑。
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描述

内置自检,或BIST,是一种结构测试方法,将逻辑添加到IC中,允许IC定期测试自己的操作。两种主要类型是内存BIST和逻辑BIST。

内存BIST或MBIST向内存生成模式,并读取它们以记录任何缺陷。内存BIST还包括一个修复和冗余能力。在这种技术中,每个模具都有备用电路。如果一个电路坏了,就断开有缺陷的电路,换上一个好的电路。内存BIST也用于为2.5D/3D设备获得已知的良好内存堆栈。

逻辑BIST或LBIST使用伪随机模式生成器来生成应用于内部扫描链的输入模式。结果被压缩成一个签名。然后,多输入签名寄存器确定签名是否正确,以判断是否通过了所有测试。

LBIST最常用于安全关键和高可靠性应用,如汽车。然而,LBIST需要一个非常干净的设计,没有未知状态,因为这将破坏操作。这意味着更严格的设计和测试规则,插入LBIST比扫描更复杂。LBIST在时间、面积和功率方面也会产生巨大的开销。

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