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诱发门噪声

通道内的热噪声
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描述

感应门噪声与器件通道内的热噪声有关。当晶体管工作在千兆赫范围内时,信道中的随机电位波动会产生信道噪声,信道噪声会通过栅极氧化电容耦合到栅极终端,从而产生感应栅极噪声。

有几种模型用于分析这一问题,通常基于信道的长度,主要由高频设备感受到影响。

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