中文 英语
知识中心
导航
知识中心

自动测试模式生成(ATPG)

生成可用于功能验证或制造验证的测试
受欢迎程度

描述

ATPG(自动测试模式生成和自动测试模式生成)是一种用于查找输入或测试序列的EDA方法/技术。

当应用于数字电路时,ATPG使自动测试设备能够区分正确的电路行为和由缺陷引起的故障电路行为。生成的模式用于制造后测试半导体器件,或协助确定故障原因(故障分析[1])。

ATPG的有效性是通过可检测的建模缺陷或故障模型的数量和生成模式的数量来衡量的。这些度量通常表示测试质量(故障检测越多越高)和测试应用时间(模式越多越高)。

ATPG效率是另一个重要的考虑因素,它受到所考虑的故障模型、被测电路的类型(全扫描、同步顺序或异步顺序)、用于表示被测电路的抽象级别(门、寄存器转换、开关)和所需的测试质量的影响。

多媒体

扫描诊断

Baidu