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测试设计(DFT)

降低与测试集成电路相关的难度和成本的技术。
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描述

降低与测试集成电路相关的难度和成本的技术。这可以减少花费在测试人员上的时间,减少与生成测试向量相关的成本,或者减少为达到可接受的测试覆盖率或产量所必需的设计迭代。

有些技术非常简单,比如在设计中提供重置。如果没有这些,测试向量必须制定一个归巢序列,将设计带入已知状态,以便测试可以实际开始。

更典型的是,它包括引入基于扫描的测试、内置自检(BIST)或使用JTAG增加可观察性。虽然BIST技术经常集成到块的功能中,但大多数测试电路是在合成后插入的。

可以在RTL设计阶段执行早期分析,以确定可能影响设计可测试性的设计决策。


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