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IEEE 1687-IEEE嵌入式仪器的访问和控制标准

IEEE半导体器件内嵌入式仪器的存取和控制标准
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描述

IEEE 1687是一个IEEE标准,定义了一种使用IEEE 1149.1测试访问端口(TAP)或其他附加方法访问集成电路内部监控数据的方法。该标准没有定义访问数据的工具或功能。通常称为内部JTAG或IJTAG,该标准提供了一组更全面的控制功能,用于设置和管理各种内部块的测试。

IJTAG允许使用一组单独的引脚来更快地加载数据。没有人愿意将引脚专门用于测试,因此通过多路复用功能引脚进行测试,可以选择许多引脚用于加载数据,而不需要占用任何物理空间。但是,必须注意确保这种muxing不会影响任何高速或模拟信号的性能。

该标准于2014年获得批准。IEEE 1687-2014是用于半导体设备内嵌入式仪器的访问和控制的IEEE标准。内部联合测试行动小组(IJTAG)致力于制定该标准。根据IEEE SA的1687页该标准包括用于将仪器连接到芯片引脚的片上网络的硬件架构,描述该网络的硬件描述语言,以及通过该网络与仪器通信的软件语言和协议。


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