芯片监控和测试合作

随着片上监测变得越来越流行在复杂advanced-node ICs,很容易与传统的硅测试问题是否冲突。它甚至可能在未来取代这样的测试。或者,他们可以相互作用,相互支持对方。

“芯片上的监控提供细粒度的可观测性的影响和问题否则困难或无法识别与传统的产品测试数据,因此不仅性能提供了新的机会,产量和品质改善,而且测试优化,”丹尼斯Ciplickas说先进解决方案的副总裁PDF的解决方案。

与测试成为下一个合乎逻辑的步骤。“行业正在从静态监测和孤立的连续循环和反馈监控测试,测试改善本身使用的组合规则和人工智能,”基斯他提到的,副总统的技术和策略效果显著。

则有可能会简单地扔掉失败测试的装置,但是监测提供了更多的见解可能失败的原因。“仍然有成本甚至收集数据从一个有缺陷的芯片,”罗伯特·鲁伊斯说产品营销总监,在Synopsys对此功能安全从业者、数码设计团队。”,但在许多情况下,它是值得的成本提高产量或改变设计来提高总收率。”

功能测试和片上监测正在学习不仅要忍受对方,但互补和协同工作。同时测试确认芯片的结构完整性,并发监视可以提供上下文,深度,和颜色的测试结果。在一起,他们可以提供更强的基础正在进行现场监测和系统测试。

“你不能真的没有测试的分析,因为你仍然需要做结构测试,”Lee哈里森说汽车IC测试解决方案经理西门子EDA。”,同样,做结构测试是伟大的,但分析给你那么多比你系统上的数据会从一个纯粹的结构性测试。”

不过,两个世界融合在一起并不容易。“这绝对是两个大玩家学习如何一起玩,“观察加卡梅尔,总经理为汽车proteanTecs。“但测试有很多从监控中,反之亦然。

测试和监控作为单独的东西…在某种程度上
测试和监控有完全独立的起源。中固有的概念测试是任何形式的任何制造过程。我们的目标是确保无论建于这样做是正确的。适用于半导体以及其他制造业产出。

提前测试的目标是定义关键方面的产品必须得到验证。半导体是没有不同的。但这些测试可以定义非常复杂。整体的概念报道反映了这样一个事实:一切很难测试。添加经济学方程,平衡的成本测试失败的代价,它变得更加困难。

测试的结果通常是一个通过/失败的决心,或者一个装箱的决定。一旦测试完成,在产品的整个生命周期。或者至少,通常是这样的——一个进化的新例外。

汽车系统现在需要执行测试“系统”——在接通电源的,在不同的时间间隔在操作,和断电。这是符合安全要求,并确保没有任何潜在的损坏或老化半导体把人们在车里或附近的车辆的危险。

监控,相比之下,是基于一些不同的用例。那是因为有多种类型的监测,他们可能提供不同的实时目的同时也提供分层分析。

图1:监控由西门子(称为“嵌入式分析”)最终将其结果发送到云大多数分析引擎驻留的地方。来源:西门子EDA

某些形式的监测有助于调整实时性能参数等条件下温度或电源电压变化。别人的目的是更多的提供可见性发生了什么芯片,因为它执行其主要任务。

芯片组装在一个系统中,监测可以评估芯片操作的完整的组装。“趋势巨大(full-reticle)死了,极薄的设备包,和异构集成导致复杂热物理相互作用导致失败,如SRAM翻转在V_最小值条件,”Ciplickas说。“那些难以刺激在芯片测试,因此可能逃避传统质量屏幕。”

的各种信息,监测可以提供包括软件问题,安全问题,安全问题,糟糕的公共汽车交易,引导顺序问题。提取这种信息需要正常运行而不是测试模式。

“为了真正优化芯片性能和可靠性在其一生中,必须了解动态条件和设备的参数属性,“Amit Sanghani说,工程副总裁、数码设计小组Synopsys对此。“这是通过分布式传感的部署和监控整个死面料。然而,同样重要的是,能见度、控制和交互的各种关键技术和分析引擎在生命周期的不同阶段,以产生实际影响芯片的性能、可持续性和健康。”

然而区别这个从测试,因为测试——几乎定义,利用特殊的测试模式的效率。即使在系统测试可能会涉及到系统的一小部分被暂时离线,所以可以执行一个测试。

所以监测提供了一个视图而不是在一些特殊的模式(尽管它也可以这么做),但主要是在操作过程中。另一种方式说,测试是破坏性的。监控不是。“当你比较传统阿拉伯学者,它(阿拉伯学者)是侵入性的,”卡梅尔说。“监控在后台运行,在操作系统,所以不需要停机。”

虽然测试和监控可能似乎接近对方在系统测试中,这个区别让他们作为独立的功能。

监测与分析有着紧密的联系,包括测试数据
监控的主要使用发送数据到云,它成为一个大型语料库的数据与一个特定的设备。和“特定的”,这并不意味着只是一个特定的零件号,但特定的序列号。身体的数据包含的所有的历史监控数据流到云自首次启动一部分。

然而,监控显示只有这么多了。虽然不同的监控层可能先后添加有用的信息当钻井找到问题的根源,整体分析受益于任何其他特定部分的相关数据。“您提供的更多的上下文,更多层次的分析和解剖我们可以提供,”诺姆Brousard解释说,副总统在proteanTecs系统。

包括工厂检验数据,元数据从设备用于构建芯片,晶圆测试数据,最终测试数据,老化数据——任何有人可能会为了找出在特定情况下。

“我们上传的大部分信息是测试名称,测试类型,在舞台上,“Brousard说。”,当我们得到所有元数据与测量,然后我们知道什么时候我们可以进行比较和如何传播我们的见解不同测试阶段”。

“我们从连接OSAT(海外组装和测试)在测试,”盖伊说科尔特斯,员工硅生命周期管理产品营销经理Synopsys对此的数码设计团队。“数据可以流到客户,客户可以提出我们到指定服务器。也可以直接从OSAT我们。”

数据存储的确切位置是芯片制造商。“我们将访问数据云的运行分析,”科特斯说。“如果客户决定他们想主机上的所有数据,这是一个选择,。他们自己的硬件在这种情况下,我们仍然能够获得它。”

这意味着测试结果需要被运送到一个数据中心-云或本地的数据成为身体的一部分。这是开始发生,尽管两个场景显示不同的数据传输的时间。

最简单的数据的目的是与所有其他的数据驻留在需要时参考。它成为大数据分析引擎可以翻的宝库。因此,时间不是至关重要的。所以测试结果会发送一天几次,每天甚至每隔几天。在这些情况下,他们作为大型批量发送。

许多监测站点可以解释测试结果文件,例如STDF格式,所以他们准备好应对这些结果的语法和语义,即使他们来自一个非常不同的世界比监测结果。“我们知道如何适应许多不同的帧格式或数据格式,“Brousard指出。

监测和测试一起工作
第二个可能的用于监控数据自适应测试决策。例如,一个传递装置(根据测试人员)边际(根据监视器)可能被不同于传递的设备中心的分布。

图2:监控可用于细粒度比可能与测试单独装箱。来源:proteanTecs

“Process-corner传感器可以阐明性能变化与过度的电流和功耗,“Ciplickas解释道。“可以采取类似的措施与芯片上的电压和温度传感器。它们可用于驱动动态测试条件和测试流优化,以避免任何跟考试有关的产量损失。”

然而,测试时间就是金钱。所以任何决策必须很快,去的云决定太缓慢。“测试房屋的原因,如延迟,为什么他们可能不会上升到云想要决定,运行某种计算,和回来的结果,“Brousard说。

这意味着一些小型版本的监测分析引擎可能驻留在测试人员对当地的决策。在这种情况下,数据也将被发送到云数据主体的一部分,但决定不需要等待。

自动化测试设备然而,有限的计算能力。“只有你在吃设备可以计算,”兰迪·鱼,说营销主管硅Synopsys对此数字设计的生命周期管理组。如果超过,当地的决定仍然需要一个本地服务器可能需要支持实时测试流动决策。人工智能操作可能需要这样一个服务器。

给当地的人工智能功能,它甚至有可能与早期监测测量与后来的测试结果。这可以提供另一个决策点缩短测试流程。

“芯片上的传感器数据是另一个有价值的数据来源,可以改善一个整体测试操作的流当包括在语义数据模型和用于驱动机器学习算法,“Ciplickas解释道。传感器数据可以收集在测试过程的早期,用来执行动态驱动测试对于一个给定的芯片晶圆或很多。这些数据可以用于机器学习来实现虚拟测试步骤,预测下游测试的性能或结果,节省时间和降低成本的测试”。

例如,一个特定的测试可能需要一些芯片。监测数据可以确定哪些芯片,与其他的绕过测试。类似地,如果这些结果表明该设备可能会失败,然后再次测试可以停止,缩短测试时间,降低测试成本。

最终,芯片制造商决定如何实现这一点。“这取决于客户的使用模型速度要适应测试环境,“鱼说。

这是一个情况监控是增加测试的测试程序正在运行,测试程序访问监视数据。测试程序,然而,可能能够控制监控,。

测试可以控制监视
一个测试的结果,虽然很有用,但相对不透明。有很多的情况下,可能会丢失。测试期间发生了什么?做了一些条件影响试验结果以某种方式?需要这些信息可能不会马上到来,但是在筛选失败的情况下,它可以是非常有用的。

,监控公司可能与测试工程师合作,让他们打开某些监控具体的测试过程中,也许会把他们后。在整个测试中,附带的监测数据,可以关联到测试可以提供上下文和颜色在任何后分析。

“我们要做的是扩大监测测试,“Brousard说。“我们正在监视当您运行测试时提供比以往更多的新数据。这允许您发现更多的问题,了解背景和来源,,当然,显著降低测试时间。”

ProteanTecs并不是唯一一个。“我们提供众多的高保真特征使用片上传感器交互和结合测试数据来创建一个丰富的设备健康和诊断深度dut的照片(被测试设备),“Ciplickas说。

为了测试程序能够读取监控数据或控制显示器本身,必须有可用的命令测试程序。“您提供的更多的上下文,更多层次的分析和解剖,我们可以提供“Brousard解释道。

api提供访问,这意味着监控指令可能成为测试程序本身的一部分。测试和监测结果可以在单独的文件中,也可以交流在不同的包,但元数据有助于相关的监测结果中测试。

在设备操作、监控和测试可能互动少。那时,任何在系统测试运行而不是一些测试程序,但通过自测功能,自给自足。这些阿拉伯学者操作不与任何监控,和任何并发监控可能没有访问阿拉伯学者的结果。

然而,在这种情况下,测试和监控正在运行的系统固件。没有什么阻止,固件同时调用测试和监测的目的有监控丰富测试结果。“当你运行你的测试在操作的一生中,这只是另一个机会使用我们的可见性,“Brousard说。“这是不中断系统操作完成。”

阿拉伯学者倾向于通过/失败结果——通常不指定特定的组件失败,所以通常没有具体的测量与测试运行。但固件可以选择上传测试结果和相应的监控数据,颜色结果和确定哪些芯片失败了。在这种情况下,然后,固件测试程序在某种程度上。

远离竞争,看来,测试和监控融合并不成为一件事,但编织彼此,从提取价值。“芯片上的传感器数据不应该被视为一个“岛”的数据,但作为另一个“箭头颤”在整个测试过程中,“Ciplickas说。“收集和组织芯片上的传感器数据“前馈”测试流程优化和饲料落后的生产,测试,甚至改进设计是一个很大的挑战,但是有相称的性能收益,收益率,和可靠性。”

其他人也同意。“你需要所有的关键组件,提供链接等跨领域设计、安全、安全、生产、调试和最后,攷虑操作的芯片。真正的预见性维护和优化机会只能意识到如果有一个紧密的反馈回路之间的芯片上的仪器和各种生命周期数据分析引擎,”说Synopsys对此Sanghani。