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标签:效果显著

无声数据破坏
通过埃德·斯珀林- 2022年12月12日-意见:0

缺陷可以从任何地方渗透到芯片制造中，但在高级节点和高级封装中，问题变得更加严重，因为引脚访问的减少会使测试变得更加困难。Ira Leventhal，美国应用研究和技术的副总裁，在美国，谈到了什么是导致这些所谓的无声数据错误，如何找到它们，以及为什么现在需要更多的技术支持。»阅读更多

一周回顾:制造，测试
通过凯伦·海曼- 2022年12月9日-意见:2

在本周庆祝晶体管问世75周年的IEDM上，有1400多名与会者，他们显然专注于让半导体的下一个75年比上一个75年更加卓越。英特尔、三星、台积电、意法半导体、GlobalFoundries和imec宣布了突破性的器件、材料甚至集成方法。这些包括:英特尔展示的优势……»阅读更多

对Fab工具采用预测性维护
通过安妮Meixner- 2022年12月6日-评论:0

与定期维护相比，基于来自半导体制造设备的更多更好的传感器数据的预测性维护可以减少晶片厂的停机时间，并最终降低成本。但是实现这种方法并不简单，它可能会破坏精心打磨的流程和流。不及时进行维护可能会导致晶圆损坏或…»阅读更多

高压测试遥遥领先
通过凯伦·海曼- 2022年12月6日-评论

电压需求不断增加，尤其是电动汽车市场。甚至可能被认为电压相对较低的设备，如显示驱动器，现在也超过了既定的基准。虽然在高压环境下工作并不是什么新鲜事——许多工程师都能回忆起他们工作场所的黄色警告带——但数量众多、种类繁多的新要求已经使测试变得非常困难。»阅读更多

一种定制的低成本ATE测试夹具s参数验证方法
通过振华陈- 2022年12月6日-评论:0

本文总结了一篇由英飞凌和Advantest在TestConX 2022上联合开发和提交的论文的内容。ATE系统的待测设备(DUT)夹具提出了几个验证挑战。用户需要快速轻松地测量DUT测试夹具，同时确保测量模拟ate到测试夹具的接口性能，并确定如何处理DUT…»阅读更多

周回顾:半导体制造，测试
通过凯伦·海曼- 2022年12月2日-评论:0

SEMI表示，随着欧洲理事会通过了《欧洲芯片法案》的谈判授权，成员国和理事会主席国捷克在支持欧洲推进关键部件制造和供应的努力方面达到了一个关键里程碑，同时加强了下一代半导体创新开发的研发能力。Ch……»阅读更多

周回顾:半导体制造，测试
通过凯伦·海曼- 2022年11月11日-评论:0

美国总统拜登(Joe Biden)似乎准备加大对日本和荷兰的压力，要求它们帮助阻止先进芯片技术流入中国，这些技术可用于开发尖端武器。“你会看到日本和荷兰跟随我们的脚步，”美国商务部长吉娜·雷蒙多(Gina Raimondo)对CNBC表示。日本计划预算3500亿日元(23.8亿美元)用于与日本科学院的研究合作。»阅读更多

测试连接清理与实时维护
通过安妮Meixner- 2022年11月8日-评论:0

测试设施开始实施实时维护，而不是定期维护，以降低制造成本并提高产品成品率。探针针和测试插座的自适应清洗可以延长设备寿命，减少产量偏差。负载板维修也是如此，它正在向预测性维护方向发展。但这种变化要复杂得多……»阅读更多

自动光学检测
通过埃德·斯珀林- 2022年11月7日-评论:0

建立良好的自动化检查模型需要收集更多的数据，包括好的和坏的数据。advest的研发工程师Vijay Thangamariappan解释了如何开发自动化光学检测模型，以数千针插座为例，说明机器学习如何帮助将缺陷退货率从2%降至零。他还解释了如何实现…»阅读更多

周回顾:半导体制造，测试
通过凯伦·海曼- 2022年11月4日-评论:0

据日经亚洲报道，美国正在敦促包括日本在内的盟友限制向中国出口先进半导体和相关技术。美国占全球半导体市场的12%，日本占15%，台湾和韩国各占20%左右。一些美国公司呼吁其他国家采取美国式的出口限制，认为这只对美国不公平。»阅读更多

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