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标签:阿拉伯学者

在设计流程的早期准备测试
通过Ann Steffora Mutschler- 2022年3月2日-评论:0

直到最近，半导体设计、验证和测试都是独立的领域。由于对可靠性的需求不断增长，市场窗口越来越短，芯片架构越来越复杂，这些领域已经开始合并。在过去，产品都是从功能的角度来设计的，设计师并不关心产品的物理实现……»阅读更多

高质量测试和嵌入式分析对于安全soc至关重要
通过李哈里森- 2022年1月11日-意见:0

诸如智能卡和国防工业中使用的设备等应用程序需要安全性，以确保外部代理无法访问敏感数据。这曾经是通过定制解决方案来满足的利基需求。然而，现在汽车和网络物理系统正在激增，围绕安全测试和监控的需求正在成为主流。目前最好的策略是……»阅读更多

错误越多，记忆越正确
通过布来安梅奥- 2021年11月9日-评论

当任何类型的存储位元变得越来越小时，由于较低的裕度和过程变化，误码率会增加。这可以通过纠错来处理和纠正比特错误，但随着使用更复杂的纠错码(ECC)，它需要更多的硅面积，这反过来又提高了成本。鉴于这种趋势，迫在眉睫的问题是……的成本是否……»阅读更多

不要让X成为逻辑BIST的问题
通过拉胡尔Singhal- 2021年10月12日-评论:0

应用于汽车、医疗和航空航天等安全关键应用的集成电路(ic)或芯片的运行故障可能会带来灾难性的后果。这些故障可能源于芯片中逃避制造测试的缺陷，或由于诸如…等因素而在系统运行期间可能发生的瞬态故障。»阅读更多

mbist支持的Trim调整以补偿MRAM的热行为
通过技术文件链接- 2021年9月3日-评论:0

摘要:自旋转矩磁随机存取存储器(STT-MRAM)是最有希望取代传统嵌入式存储器(如静态RAM和动态RAM)的候选存储器之一。然而，由于MRAM单元的开/关比很小，工艺变化可能会降低芯片的操作裕度。建议将参考修边作为减少变化对气的影响的方法之一。»阅读更多

芯片监控与测试协作
通过布来安梅奥- 2021年5月11日-意见:0

随着片上监控在复杂的高级节点集成电路中变得越来越普遍，人们很容易质疑它是否与传统的硅测试相冲突。它甚至可能在未来取代这种测试。或者，它们可以相互作用，相互支持。“片上监视器提供了对效果和问题的细粒度观察，否则很难或……»阅读更多

Tessent LogicBIST与观察扫描技术
通过西门子EDA- 2021年2月3日-评论:0

满足ISO 26262对高质量和长期可靠性的要求，实现IC逻辑高缺陷覆盖率的片上安全机制。本文介绍了一种新型的逻辑自建测试(BIST)技术——观察扫描技术，该技术提高了逻辑自建测试质量，缩短了系统内测试时间。实证结果表明，90%的测试覆盖率高达10倍…»阅读更多

争夺空白地带
通过布来安梅奥- 2020年10月13日-评论:0

芯片制造商正在努力利用设计中更多未使用的部分来实现不同的功能，减少芯片其余部分的余量，以更清楚地定义空白区域。留白通常用于在所有硅区域用完之前缓解后端路由拥塞。但仍有大量空间未被使用。这为插入monit…提供了机会。»阅读更多

使用内置自检硬件以满足ISO 26262安全要求
通过Mentor是西门子旗下的企业- 2020年6月30日-评论:0

自动驾驶汽车的前景正在推动汽车半导体部件的设计和测试发生深刻变化。用于安全关键应用的ic需要满足ISO 26262功能安全标准。设计流程中的挑战之一是调整测试设计和功能安全性的指标。本文介绍了用逻辑自检作为测试工具。»阅读更多

如何通过内置自检满足功能安全要求
通过李哈里森- 2020年6月04日-评论

随着当今汽车中半导体含量的快速增长，IC设计人员需要改进流程，以满足ISO 26262标准定义的功能安全要求。ISO 26262标准定义了功能安全级别，即汽车安全完整性级别(ASIL)，是汽车系统设计过程的强制性组成部分。ASIL类别包括…»阅读更多

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