中文 英语

标签:STDF

为端到端分析寻找框架
通过安妮Meixner- 2022年7月12日-意见:0

端到端分析可以提高工具购买的收益率和投资回报率，但要获得这些好处，需要通用的数据格式、模具可追溯性、适当的数据粒度级别，以及确定谁拥有哪些数据。正在制定新的标准、指导方针和联盟努力，以消除这些用于分析目的的数据共享障碍。但是工作量需要…»阅读更多

连接不同数据的使能器和障碍
通过安妮Meixner- 2021年11月9日-评论:0

制造过程的每一步都在收集更多的数据，从而提高了以新方式组合数据来解决工程问题的可能性。但这远不是一件简单的事，把结果结合起来并不总是可能的。半导体行业对数据的渴求从制造过程中产生了海量数据。此外，半导体设计大大小小的现在哈…»阅读更多

用更好的数据使测试透明
通过苏珊兰博- 2021年9月7日-评论:0

数据对于晶圆厂内的各种工艺都至关重要。挑战在于从不同的设备获得足够一致的数据，然后将其插入到设计、制造和测试流程中，以快速改进工艺并发现难以发现的缺陷模具。正在取得进展。检测和测试行业正处于拥有更动态的方式来访问数据的风口浪尖。»阅读更多

芯片监控与测试协作
通过布来安梅奥- 2021年5月11日-意见:0

随着片上监控在复杂的高级节点集成电路中变得越来越普遍，人们很容易质疑它是否与传统的硅测试相冲突。它甚至可能在未来取代这种测试。或者，它们可以相互作用，相互支持。“片上监视器提供了对效果和问题的细粒度观察，否则很难或……»阅读更多

测试数据格式介绍
通过玛丽·瑞恩- 2020年12月8日-评论:0

本博客旨在介绍STDF和ATDF数据格式。这并不是明确的，只是一个介绍。如果您有在电子表格和表格中查看数据的经验，那么STDF与您所习惯的非常不同。这里我们试着解释一下。STDF是“标准测试数据格式”，由一些最大的测试设备联合开发。»阅读更多

为什么数据格式会减缓芯片制造的进程
通过苏珊兰博- 2020年10月14日-评论:0

标准测试数据格式(STDF)是一种用于从自动化测试设备中提取测试结果数据的主力数据格式，在35年后正在失去动力。它无法跟上在各种半导体制造工艺中由更多传感器产生的数据的爆炸性增长。STDF最初是由Teradyne在1985年开发的，它是一种二进制格式，可以翻译成ASCII或…»阅读更多

新的数据格式促进测试分析
通过安妮Meixner- 2020年9月8日-评论:0

对更多更好的测试数据的需求正在推动一项重大的标准制定工作，为多年来数据格式最重大的变化之一铺平了道路。这种转变是有充分理由的。来自设备测试的数据正在成为关于限制和流程的测试程序决策的关键元素。从汽车和医疗部件到复杂的、异构的……»阅读更多

数据成为下一代芯片的关键
通过苏珊·兰博和埃德·斯珀林- 2020年7月7日-评论

数据对于了解半导体的使用寿命至关重要，而收集到的知识是超越摩尔定律保持竞争力的关键。改变的是，在设计周期的早期，越来越依赖于多种数据源，包括一些从设计到制造流程的更右边的数据。虽然这种整体方法似乎足够合乎逻辑，但半导体…»阅读更多

STDF数据的家庭分析
通过玛丽·瑞恩- 2020年5月12日-意见:0

STDF数据文件可能非常大，通常有几十兆字节，单个文件有时超过1gb。当你在家工作并且只有一个桌面分析工具时，你必须首先从你的工作网络下载数据。即使文件首先被压缩，它们仍然很大，很多时候你需要分析几十个数据文件才能真正理解一个…»阅读更多

使用STDF的5个重要提示
通过yieldHUB- 2020年5月12日-意见:0

Teradyne开发的STDF数据日志格式已成为半导体行业数据日志格式的事实上的标准，因为大多数现代ATE制造商都支持该格式。STDF文件的数据处理通常需要读取二进制文件并将其转换为人类可读的格式或用于输入到数据库的格式。也有可能STDF文件被转换为ATD…»阅读更多

  • 赞助商

关于

导航

与我们联系

版权所有©2013-2023 SMG |服务条款|隐私政策
Baidu