平均测试部分(PAT)

通过yieldHUB2021年1月- 12 -评论:0

与半导体制造商产生大量数据,很难保证质量和可靠性,即使内部工具。许多公司外包部分平均测试(PAT)定制的收益管理供应商。提供符合规定的标准由原子能委员会,该工具将在为客户保证质量和可靠性是非常重要的。点击这里骗……»阅读更多

Ambiq YieldHUB案例研究

通过yieldHUB10月- 13,2020 -评论:0

Ambiq微是领导世界节能微控制器(MCU)设计,重新定义“超低功耗”以其独特的和专有的现货平台。他们开始与我们合作几年前,当他们的数据开始扩展(他们现在生产成千上万的晶片一个月!),他们需要一个有效的收益管理系统来帮助他们。高级产品工程师杰瑞花王分享他足总…»阅读更多

通过yieldHUB2020年10月- 12 -评论:0

晶片验收测试(窟)也被称为过程控制监控(PCM)数据是数据生成的工厂的生产和一般为每个晶片制程客户可用。40和一百年之间的数据通常会有测试,每个测试有结果每个站点在晶圆(或“上门”)。网站所在,以便工厂能监视器……»阅读更多

通过yieldHUB- 08年9月,2020 -评论:0

你为制程启动工作吗?你增加了吗?如果是这样,你需要数据分析工具为您的生产数据。没有他们你会挣扎。你有两个选择收益管理分析。你可以决定雇佣一名工程师(或团队的工程师)的工作就是datalog的数据转移到一个电子表格。然后生成报告。或者,你可以投资于一个系统,需要c…»阅读更多

通过yieldHUB- 08年6月,2020 -评论:0

在半导体领域与范围广泛的客户数据,企业往往把有趣的技术挑战我们。今年迄今为止最复杂的一个可能是一个请求(好吧,一个要求!)来解释测试datalog二进制文件,这样他们可以从我们的yieldHUB分析数据库系统。该公司为我们提供了什么实际的二进制形式的信息…»阅读更多

通过yieldHUB——5月12日,2020 -评论:0

STDF datalog格式由Teradyne datalog已经成为事实上的标准格式在半导体行业大多数现代吃制造商支持的格式。数据处理STDF文件通常需要读取二进制文件,并将它们转换为人类可读的格式或输入到一个数据库中。也有可能STDF文件转换为ATD……»阅读更多