作者最新文章

IC数据的烫手山芋:谁拥有和管理它?

通过苏珊·兰博和埃德·斯珀林- 2021年7月6日-评论

现代检测、计量和测试设备在半导体的制造和测试过程中产生了大量的数据。现在的问题是如何处理这些数据。一段时间以来，检测和计量中的图像分辨率一直在提高，以处理密度增加和特征变小的问题，从而产生了很大程度上未得到处理的下游效应。高resoluti……»阅读更多

检验、计量和测试中的人工智能

通过苏珊·兰博和埃德·斯珀林- 2021年4月6日-评论:0

AI/ML正在渗透到晶圆厂和包装车间的多个流程中，尽管不一定是为了最初的目的。芯片行业才刚刚开始了解人工智能在哪里有意义，在哪里没有意义。一般来说，AI在具有深厚领域专业知识的人手中作为工具工作得最好。AI可以很好地做某些事情，特别是当涉及到模式m时……»阅读更多

数据成为下一代芯片的关键

通过苏珊·兰博和埃德·斯珀林- 2020年7月7日-评论

数据对于了解半导体的使用寿命至关重要，而收集到的知识是超越摩尔定律保持竞争力的关键。改变的是，在设计周期的早期，越来越依赖于多种数据源，包括一些从设计到制造流程的更右边的数据。虽然这种整体方法似乎足够合乎逻辑，但半导体…»阅读更多

重新想象GPU

通过苏珊·兰博和埃德·斯珀林- 2020年4月23日-意见:0

Imagination Technologies的CTO John Rayfield接受了《Semiconductor Engineering》的采访，谈论了RISC-V、AI和计算架构。以下是那次谈话的节选。SE:你对RISC-V有什么计划?雷菲尔德:我们正在积极完成将RISC-V核心集成到未来一代gpu中的工作。那项工作已经进行了好几个月了。接下来，我们……»阅读更多