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介绍测试数据格式

部分构成一个完整的和完全兼容STDF或ATDF文件。

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这个博客的目的是提供一个介绍STDF和ATDF数据格式。这不是为了给出定论,只介绍。如果你有看到电子表格和表中的数据,经验然后STDF非常不同于你。在这里,我们试图解释。

STDF共同开发的“标准测试数据格式”之间最大的一些测试设备供应商和半导体公司。这是一个二进制格式STDF V4规范定义的。

ATDF STDF的ASCII版本。虽然STDF是二进制格式,ATDF ASCII所以读的任何文本查看器。试验机计算机的二进制格式要快写,不需要任何数字或字母转换格式。随着考试时间的影响产品的成本,通常喜欢用花最少的时间来写的格式。

格式是完全定义和解释相关的规范。然而,这篇文章将提供一个相当简单介绍格式。的结构在很大程度上是同一STDF和ATDF之间,所有的例子显示本质上是ATDF 1和0的字符串不是很容易理解。

STDF是数据流。有一个文件开始部分。然后任意数量的测试,模具(设备)和结果可以添加文件之前关闭。这样做的优势在于可以直接写在该文件测试和部分文件(这是可能的,但不总是)可以包含可用的数据。

由定义记录类型的格式。规范中定义的每个记录类型包含的数据类型,数据的大小限制和字段的数据类型。一般来说,yieldHUB字段直接按照STDF V4规范。

这里概述的格式,这不是广泛但简化视图易于理解。记录的格式由集来组织数据。为一个完整的和完全兼容文件,许多记录类型必须存在。有记录缺失的是与STDF数据的最常见的问题之一。

全局元数据

  • 全球记录文件:
  • 全球许多记录:米尔
  • 销地图记录:PMR(当使用MPR)
  • 全球网站说明:特别提款权
  • 晶片配置:WCR(当测试晶片)

当测试晶圆的测试数据

为每一个晶片

  • 记录第一晶片:我们
  • 对于每一个部分
    • 记录模具整体:PIR
    • 为每个测试:
      • 结果参数测试:PTR(每个数字一个极限测试程序)
      • 功能测试的结果:功能处理量(一个用于每一个通过/失败的测试程序)
      • Multi-Pin参数测试结果:MPR(包含一组数据的测试名称和限制对于每个结果都是相同的)
    • 最终结果从死:PRR
  • WRR。最终结果从晶片:到

测试数据没有晶片设置配置

对于每一个部分

  • 记录整体部分:PIR
  • 为每个测试:
    • 结果参数测试:PTR(每个数字一个极限测试程序)
    • 功能测试的结果:功能处理量(一个用于每一个通过/失败的测试程序)
    • Multi-Pin参数测试结果:MPR(包含一组数据的测试名称和限制对于每个结果都是相同的)
  • 最终结果:部分PRR

最终的全局数据

  • 为每个测试工作计划总结:临时避难所
  • 数的零件放置在每个HW本:哈佛商业评论
  • 数的零件放置在每个SW本:SBR
  • 部分统计总数:PCR
  • 总体概述:MRR

MPR扩展能力

yieldHUB延伸MPR的能力。这个测试记录类型是为了用于设备的别针等情况下的连续性测试,或输入泄漏。然而,这已经扩展用于任何重复测试的测试名称是相同的和限制都是相同的。这个的关键是扩大销记录映射到覆盖所有所需的指数在每个数组。例如密码1 - 99可用于密码对应的频率扫描频率值。和密码100 - 199可用于电压扫描。此外,这些密码可以用于任何身体上的重复结构的死亡。在这种情况下,yieldHUB独特的能力为每个“销”允许输入XY位置结果映射到死,在晶圆和整个批晶片。



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