标签:测试数据

共享安全芯片的数据分析
通过安妮Meixner- 06年4月,2021 -评论:0

新方法和标准正在开发安全地共享整个供应链生产和测试数据,移动,长期以来被认为是至关重要的终端设备的可靠性和更快的收益和利润。这些方法需要时间成为集成电路广泛的供应链。但是有越来越多的协议这类措施雨淑缇……»阅读更多

介绍测试数据格式
通过玛丽·瑞恩- 08年12月,2020 -评论:0

这个博客的目的是提供一个介绍STDF和ATDF数据格式。这不是为了给出定论,只介绍。如果你有看到电子表格和表中的数据,经验然后STDF非常不同于你。在这里,我们试图解释。STDF共同开发的“标准测试数据格式”最大的一些测试设备v之间……»阅读更多

自适应测试的进展
通过安妮Meixner11月- 10,2020 -评论:0

并不是所有的设备进行测试相同的方式了,这是一件好事。质量、测试成本和收益动机产品工程师采用测试流程,属于自适应测试的伞,它使用测试数据修改后续测试过程。但执行这样的技术需要后勤支持分析的数据,以及使更改测试基础……»阅读更多

实际可行的方法来减少测试时间
通过约翰·奥唐纳- 09年7月,2019 -评论:0

如果有人说,纸永远不会拒绝油墨,他们可能会说相同的测试项目和测试。在我职业生涯的早期测试开发工程师,我注释掉了所有的测试除了关键测试我正在研究的新产品。这让我隔离测试和修复它的可重复性。接下来的预生产运行完成的比我预期的更早,我印象深刻……»阅读更多

利用更多的数据来提高芯片设计
通过安Mutschler- 3月28日,2019 -评论:0

每一步的IC工具生成一定数量的数据流。但某些步骤生成一个令人难以置信的数据量,并不是所有的平等的价值。的挑战是找出最重要的部分的设计流程。决定如何提取和循环回到工程师,当需要做为了提高的可靠性越来越com……»阅读更多

更有效地使用数据分析
通过莎朗·夏弗兰2019年2月- 13(-评论:0

半导体产业从他们的客户现在的压力很大。他们将跟上消费者的期望电子产品生命周期短,在不影响组件的可靠性和质量和产品了。来自麦肯锡公司最近发表的一篇文章,描述了质量程序已经成为bottl……»阅读更多

最后,实现并行站点的全部好处(s2)测试
通过家伙科特斯2017年5月- 08 -评论:0

很常见的和著名的实践由制造商在集成电路测试过程中测试的设备模具或包装部分尽可能并行(即网站)在晶圆测试和最终测试为了增加测试时间效率和降低总体测试成本。的约束,通常限制多少测试站点可以使用在任何给定的时间是设计I / O和纳卡帕克…»阅读更多

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