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如何建立一个成功的多芯片模块工厂?


当谈到多芯片模块(MCM)制造时,扇出晶圆级和扇出面板级封装最近得到了大量报道。每周,似乎都有关于“XYZ公司”将其产品转移到扇出晶圆级封装(FOWLP)或扇出面板级封装(FOPLP)领域的公告。但这些举措带来的挑战并没有…»阅读更多

扇形包装的选择越来越多


芯片制造商、osat和研发机构正在为一系列应用开发下一波扇出包,但整理新选项并找到正确的解决方案被证明是一个挑战。扇出是一种在高级封装中组装一个或多个芯片的方法,使芯片具有更好的性能和更多的I/ o,用于计算、物联网、网络和sma等应用程序。»阅读更多

先进包装的下一波浪潮


封装公司正在准备下一波先进的封装,使新的系统级芯片设计适用于一系列应用。这些高级封装涉及一系列技术,如2.5D/3D、芯片、扇出和系统内封装(SiP)。这些中的每一个,反过来,提供了一系列的选项组装和集成复杂的模具在一个先进的包,提供芯片定制…»阅读更多

使芯片封装更加可靠


封装公司正在准备下一波IC封装,但这些产品在被集成到系统之前必须被证明是可靠的。这些封装包含了一些先进的技术,如2.5D/3D、芯片和扇出,但供应商也在开发更成熟的封装类型的新版本,如线粘接和引线框架技术。和以前的产品一样,包装……»阅读更多

高级包会出什么问题


先进的封装可能是大幅提高性能、降低功耗和不同外形因素的最佳方式,但它增加了一系列全新的问题,当摩尔定律和ITRS路线图为芯片行业创造了半标准化的前进道路时,这些问题得到了更好的理解。不同的高级封装选项-系统封装,风扇输出,2.5D, 3D-IC -有一个…»阅读更多

生存的高密度先进包装设计的三个阶段


高密度高级封装(HDAP)的发展,如FOWLP, CoWoS和WoW,正在引发传统IC设计和IC封装设计世界的融合。为了处理这些不同的基材场景,必须进行工艺转换。本文讨论了HDAP设计的三个阶段,并提供了如何应对这些挑战的技巧。欲了解更多,请点击这里。»阅读更多

用于RFMEMS-CMOS高性能低成本封装的WLFO


在考虑集成电路(IC)封装和最终应用时,在性能、尺寸、成本和可靠性之间进行权衡可能是一个挑战。微机电系统(MEMS)的集成,无论是单片的还是异构的,都引入了另一个层次的复杂性,这是最近才成为多设备封装的主要焦点。晶圆级扇出(W…»阅读更多

高级节点、包的变异威胁增长


对于芯片制造商来说,随着他们向下一个工艺节点或越来越密集的高级封装推进,变化正成为一个更大、更复杂的问题,引发了对单个设备甚至整个系统的功能和可靠性的担忧。在过去,几乎所有关于变异的关注都集中在制造过程上。打印在硅片上的东西…»阅读更多

新的dl - first PoP扇出晶圆级封装工艺与芯片到晶圆键合技术


扇出晶圆级插接封装(PoP)设计在移动应用中具有低功耗、短信号路径、小尺寸和多功能异构集成等优点。此外,它还可以应用于各种封装平台,包括PoP、系统级封装(SiP)和芯片级封装(CSP)。这些优势来自于先进的网络技术。»阅读更多

一个值得生产的扇出解决方案- ASE FOCoS芯片最后


第五代(5G)无线系统的普及将推动封装向高性能、异构集成的形态发展。对于高I/O密度和高性能封装,有前途的基板扇出芯片(FOCoS)提供了一个解决方案,以匹配外包的半导体组装和测试(OSAT)能力。FOCoS被标识为扇出(FO)包,它可以使…»阅读更多

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