新闻来自Advantest, Optimal+，天体测试系统。
上周，在德克萨斯州沃斯堡举行的2017年国际测试大会上，Advantest是参展商和企业赞助商之一。这家自动测试设备公司还在ITC的技术项目期间发表了论文，参加了会议，并提供了海报。在展台上，Advantest展示了按需服务CloudTesting服务．它还展示了它的EVA100模拟/混合信号IC测试系统它现在包括一个集成的伺服回路功能，以更快的测试时间和更高的精度。
最优+作为ITC的另一家参展商和赞助商，该公司的首席技术官迈克尔·舒登弗雷(Michael Schuldenfrei)发表了题为“机器学习作为未来平台”的演讲。
在ITC，天体测试系统扩展了它的能力ATS 5034系统级测试平台．半自动ATS 5034测试仪现在为半导体制造商提供了更高的混合，更低的体积，小批量和更长的测试持续时间。该系统可升级为全自动操作，具有高速处理器。
Aehr测试系统公司展示了其下一代FOX-XP多晶圆测试和老化系统，用于大批量生产和早期故障率测试。该公司还展示了其FOX-1P单片平台，用于单点触地300毫米全片并行测试，以及其ABTS系列封装部件老化和测试系统。
皮克林接口来到ITC高密度PXI和以太网LXI交换和仿真产品。该公司还强调了其eBIRST交换系统测试工具和交换机路径管理器信号路由软件。
2017年的ITC测试周已经结束了!
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