奥本大学的研究人员发表了一篇题为《小心丢弃使用过的sram:信息被永久存储》的技术论文。这篇论文在10月25日至27日在亨茨维尔举行的IEEE电子产品物理保证和检验国际会议(PAINE)上获得了“最佳论文奖”。
文摘:
数十年来，数据恢复一直是电子行业安全专家关注的焦点，重点是硬盘恢复，这是一种非易失性存储器。不幸的是，现有的研究，无论是学术界、工业界还是政府，都没有考虑过从不稳定的记忆中恢复数据。根据定义，数据在关机时丢失。据我们所知，我们是第一个提出从静态随机存取存储器中恢复数据的方法。通常情况下，每当SRAM关闭时，它就会丢失其内容，当基于SRAM的计算系统退役时，不需要保护敏感信息，例如固件代码、秘密加密密钥等。不幸的是，集成电路的回收对知识产权的保护构成了严重的威胁。在本文中，我们提出了一种新的概念来检索SRAM数据，因为老化导致通电状态与存储值的印记。我们表明，我们提出的方法可以部分恢复以前使用的SRAM内容。与单个SRAM芯片相比，合并多个SRAM芯片可以进一步提高恢复数据的准确性。不可能检索到一些稳定SRAM细胞的先前内容，其中老化使这些细胞趋于稳定。 As the locations of these cells vary from chip to chip due to uncontrollable process variation, the same cell has a higher chance of being unstable or stable against aging in any of the chips, which helps us recover the content. Finally, majority voting is used to combine a set of SRAM chips’ data to recover the stored data. We present our experimental result using commercial off-the-shelf SRAMs with stored binary image data before performing accelerated aging. We demonstrate the successful partial retrieval on SRAMs that are aged with as little as 4 hours of accelerated aging with 85C.”
找到这里是技术文件．2022年8月出版。找到奥本大学的新闻．
Hovanes, Joshua, Yadi Zhong和Ujjwal Guin。“小心丢弃使用过的sram:信息将被永久存储。“arXiv预印arXiv:2208.02883(2022)。
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