中文 英语

标签:老化

高压测试遥遥领先
通过凯伦·海曼- 2022年12月6日-评论

电压需求不断增加，尤其是电动汽车市场。甚至可能被认为电压相对较低的设备，如显示驱动器，现在也超过了既定的基准。虽然在高压环境下工作并不是什么新鲜事——许多工程师都能回忆起他们工作场所的黄色警告带——但数量众多、种类繁多的新要求已经使测试变得非常困难。»阅读更多

更多生产问题，更多测试
通过埃德·斯珀林- 2022年2月8日-评论:0

Advantest America首席执行官Douglas Lefever接受了《半导体工程》的采访，讨论了测试中的变化、先进封装的影响以及整个流程中正在发生的业务变化。以下是那次讨论的节选。SE:接下来的测试中有哪些大的变化?勒菲弗:这不是拐点，更像是从代数到微积分……»阅读更多

使用分析来减少疲劳
通过安妮Meixner- 2021年1月12日-意见:3

硅供应商正在使用自适应测试流程来降低老化成本，这是阻止高级节点和高级封装成本增加的众多方法之一。没有人喜欢手机在购买后的第一个月内出现故障。但是，当数据仓库服务器或汽车中的关键组件出现故障时，问题就更加紧迫了。可靠性期望……»阅读更多

自适应测试取得进展
通过安妮Meixner- 2020年11月10日-评论:0

不是所有的设备都以同样的方式进行测试，这是一件好事。质量、测试成本和产量促使产品工程师采用属于自适应测试的测试过程，自适应测试使用测试数据来修改后续的测试过程。但是要执行这样的技术，需要后勤支持数据分析，以及支持基于测试的更改…»阅读更多

ML在制造业中的应用
通过埃德·斯珀林- 2020年6月23日-评论:0

如何通过将机器学习应用于不同的用例来防止早期故障，以及如何解释模型以实现不同的可靠性权衡。Jeff David是PDF solutions的人工智能解决方案副总裁，他深入研究了如何利用数据来提高可靠性。»阅读更多

使用静态分析实现功能安全
通过埃德·斯珀林- 2020年1月15日-意见:0

Synopsys研发总监Fadi Maamari解释了为什么静态分析在汽车芯片设计中突然变得有需求，它如何帮助选择功能安全方法的最佳实现，以及它在设计流程中的位置。»阅读更多

系统级测试:它适合在哪里?
通过天体电子学- 2018年9月17日-评论:0

我们的第二个C-Brief讨论了系统级测试(SLT)最适合半导体测试工作流程的位置。使用自动化测试设备(ATE)，传统的工作流程可能包括:晶圆分类(WS)封装后老化(BI)结构测试(ST)和功能测试(FT)的结合。随着对大批量制造业的需求转向更广泛的工业和com…»阅读更多

2017年国际贸易中心总结
通过杰夫Dorsch- 2017年11月6日-评论:0

上周，在德克萨斯州沃斯堡举行的2017年国际测试大会上，Advantest是参展商和企业赞助商之一。这家自动测试设备公司还在ITC的技术项目期间发表了论文，参加了会议，并提供了海报。在展台上，Advantest展示了其按需云测试服务。它还展示了EVA100模拟/混合信号IC芯片。»阅读更多

  • 赞助商

关于

导航

与我们联系

版权所有©2013-2022 SMG |服务条款|隐私政策
Baidu