人工智能和ML能做什么为半导体测试和测量。
目前,半导体制造业使用人工智能和机器学习的数据,自动从数据中学习。有额外的数据,人工智能和毫升可以很快发现模式并确定相关性在各种应用程序中,最值得注意的是这些应用程序涉及计量和检验,无论是在制造过程的前端或后端。这些应用程序可能包括基于ai的空间模式识别(SPR)内联晶片系统监测[2],自动缺陷分类(ADC)系统与机器学习模型和基于机器学习光学临界尺寸(OCD)计量系统[1][7]。
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