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白皮书

SiGe对PMOS寄生参数的影响

深入了解基于模拟的设计技术协同优化。

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本文利用covenor SEMulator3D虚拟制造平台及其集成电分析功能[1],实现了基于仿真的设计技术协同优化(DTCO)。在我们的研究中,工艺建模被用来预测FinFET器件性能对硅锗外延工艺变化的敏感性。模拟工艺是应用于14nm FinFET的末栅流工艺。提取源漏接触电阻和流苏电容,以检测工艺变化对器件性能的影响。最后采用TCAD仿真完成晶体管级仿真。

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