如何减少逻辑BiST区域同时改善汽车芯片的测试时间。
穆罕默德Abdelwahid (Ali)、汽车逻辑测试产品经理导师,西门子业务,讨论如何最大化覆盖不同ASIL标准逻辑阿拉伯学者,如何提高测试效率,影响对区域和测试时间。
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