标签:LBIST

汽车mcu: LBIST功能的数字孪生
通过技术文件链接- 2023年2月15日-评论:0

英飞凌科技、不来梅大学和DFKI有限公司的研究人员撰写了一篇题为“使用数字孪生的汽车微控制器的新型LBIST签名计算方法”的新技术论文。摘要:LBIST已被证明是实现汽车微控制器功能安全目标的有效措施。由于最近各种各样的创新茶…»了解更多

不要让X成为逻辑科学的一个问题
通过拉胡尔Singhal- 2021年10月12日-评论:0

集成电路(ic)或部署在汽车、医疗和航空航天等安全关键应用中的芯片的运行故障可能会造成灾难性后果。这些故障可能源于芯片中未通过制造测试的缺陷，也可能源于系统运行过程中由于以下因素而发生的短暂故障:»了解更多

防止芯片在测试过程中烧坏
通过布来安梅奥- 2021年3月9日-评论

控制IC测试过程中产生的热量变得越来越困难。如果没有适当的缓解措施，它很容易产生如此多的热量，以至于探测卡和芯片真的会烧毁。因此，实施温度管理技术正成为集成电路测试的关键部分。“我们谈论制度，说制度很好，”大四学生阿伦•克里希纳穆尔西(Arun Krishnamoorthy)表示。»了解更多

汽车测试系统内移动
通过布来安梅奥- 2021年2月9日-评论

随着汽车的电气化，在制造过程的最后阶段彻底测试新的电子设备是不够的。现在的安全标准要求测试必须在现场现场进行，如果测试失败，还要有应急计划。“我们看到汽车半导体供应链对设计功能的明确需求，特别是针对系统内监控。»了解更多

如何通过内置自检满足功能安全要求
通过李哈里森- 2020年6月4日-评论

随着当今汽车中半导体含量的快速增长，IC设计人员需要改进其流程，以满足ISO 26262标准定义的功能安全要求。ISO 26262标准定义了功能安全级别，称为汽车安全完整性级别(ASIL)，是汽车系统设计过程的强制性部分。ASIL类别包括…»了解更多

BiST与在线传感器
通过苏珊兰博- 2020年5月13日-评论:0

随着集成电路进入汽车中枢大脑等安全关键应用领域，监测芯片制造后的健康状况(包括其老化和随时间推移的表现)变得越来越重要。面对更长的使用寿命和越来越多的功能安全规则，系统供应商需要能够预测部件何时会失效。但是作为感应汽车…»了解更多

提高集成电路的功能安全
通过穆罕默德Abdelwahid- 2020年3月10日-评论:0

汽车电子产品的指数级增长刺激了先进安全机制发展的重大创新。除了非常高质量的制造测试外，用于安全关键应用的集成电路还需要系统内测试来检测故障和监控电路老化。基于扫描的逻辑内置自检(LBIST)是用于系统内测试的技术，但传统的…»了解更多

汽车芯片设计流程
通过埃德·斯珀林- 2020年2月17日-评论:0

Synopsys高级技术营销经理Stewart Williams谈到了汽车芯片整合和7/5nm对汽车SoC设计的影响，如何权衡功耗、性能、面积和可靠性，以及ISO 26262如何影响这些变量。»了解更多

确保设计中的功能安全
通过埃德·斯珀林- 2020年2月5日-评论:0

Siemens Business旗下Mentor的汽车逻辑测试产品经理Mohammed Abdelwahid (Ali)讨论了如何在不同的ASIL标准中最大限度地覆盖逻辑BiST，如何提高测试效率，以及这对面积和测试时间的影响。»了解更多

汽车集成电路系统内测试的提前规划
通过杰夫•迈耶- 2020年1月14日-评论:0

汽车越来越像电子设备，而不是机械平台。作为汽车总成本的一部分，电子元件已经从1970年的5%增长到2010年的35%。到2030年，电子产品预计将占到50%(德勤，2019)。一些电子设备用于被动操作，如显示器或车载信息娱乐(IVI)系统，但越来越多的电子设备…»了解更多

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