改善阿拉伯学者,以满足ISO 26262的测试覆盖率。
在汽车电子的指数增长刺激迈进重要创新发展先进的安全机制。除了非常高质量的生产测试,ICs对于对安全性要求苛刻的应用程序需要在系统测试来检测故障和监控电路老化。Scan-based逻辑built-in-self-test (LBIST)技术用于在系统测试,但是传统LBIST经常不能满足覆盖目标所需的诊断测试时间间隔内(DTTI)。
设计师需要一个LBIST解决方案,使他们能够满足90%的故障覆盖率在DTTI要求,不增加面积开销。新的LBIST技术,大大提高了系统的效率测试已经证明了主要汽车IC设计公司。新的LBIST技术叫做LBIST-OST(逻辑阿拉伯学者观察扫描技术)。
在最近的智能,导师汽车产品经理穆罕默德Abdelwahid谈论如何最大化覆盖不同ASIL标准逻辑阿拉伯学者,如何提高测试效率,影响对区域和测试时间。
关于LBIST在系统测试
LBIST广泛用于在系统测试来检测故障,可能违反安全的目标。然而,LBIST的伪随机特性构成了挑战,汽车集成电路设计者:它不能满足在分配DTTI覆盖的目标。达到90%的覆盖目标汽车安全完整性水平(ASIL) D认证可能包括增加LBIST面积开销,使芯片从成本的角度不可行。
的伪随机特性LBIST DTTI不是唯一的挑战;另一个障碍是,故障检测只发生在捕获阶段的LBIST周期。每个LBIST周期有两个phases-shift和捕获。有尽可能多的转变周期最长的扫描链的长度。捕获阶段使用扫描链驱动写入的值组合逻辑,捕捉潜在的缺点。这意味着所有的转变阶段所花费的时间是时间错误没有被发现。如果你可以观察电路响应在这转变周期?它大大提高了整体设计的可观测性。
关于LBIST-OST
控制和观察测试点改善LBIST随机模式测试覆盖率。在LBIST-OST架构中,一个输入端的LFSR是生成的减压器,作为一个伪随机模式发生器LBIST模式。在输出端,一个空间压实机驱动通道别针在生成时间,和驱动MISR LBIST模式。
与传统的测试点,LBIST-OST观察点使用一个新的扫描细胞功能,本质上连接观察分在不同的链(图1)。这使他们捕获电路响应不仅捕获循环期间,周期也在转变。
图1。LBIST-OST架构。
LBIST-OST技术利用测试点减少DTTI通过增加故障检测期间,提供快10倍比传统LBIST,减少了在系统测试所需的测试模式数量(图2)。
图2。LBIST-OST减少测试时间。
ICs的需要满足ISO 26262,实现ASIL D认证,在系统测试需求。设计师可以减少在系统测试时间(DTTI)并使用LBIST-OST面积开销。观察扫描完成测试更快,从而简化键,点火开关,功能操作期间定期检查。
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