改善集成电路的功能安全


在汽车电子的指数增长刺激迈进重要创新发展先进的安全机制。除了非常高质量的生产测试,ICs对于对安全性要求苛刻的应用程序需要在系统测试来检测故障和监控电路老化。Scan-based逻辑built-in-self-test (LBIST)技术用于在系统测试,但tradit…»阅读更多

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