汽车系统的安全运行取决于强大的实时测试。
越来越多的汽车更像比机械电子设备平台。占总成本的汽车,电子元件已经从1970年的5%到2010年的35%。电子产品预计将在2030年占50%(2019年德勤)。一些被动电子产品的操作,比如显示或车载信息娱乐系统(20),但是越来越多的汽车电子产品和asic的运行安全至上的系统。这些系统都非常高的可靠性和安全性标准。满足这些标准的一部分,包括ISO 26262,实现健壮的系统测试,发现错误,可以影响汽车的安全运行。在系统测试包括通电自检,期间断电测试和自测功能操作。
管理的要求测试汽车ICs不仅仅需要健壮的系统测试;它还要求非常高的缺陷生产测试期间覆盖。随着越来越多的设计尺寸和采用先进的生产工艺,最终safety-compliant IC在时间和预算需要先进的规划和一个可伸缩的适当时机(DFT)策略。
嵌入式确定性测试(美国东部时间)DFT的主力,提供足够的压缩包含测试成本在摩尔定律的时代。今天美国的解决方案可以实现非常高的缺陷汽车ICs所需覆盖。集成电路后变成汽车的系统的一部分,它需要定期测试功能操作期间确保可靠性,这是通过逻辑built-in-self测试(LBIST)。DFT的解决方案也需要处理这个任务。图1说明了混合的组合逻辑架构TK / LBIST。
图1所示。混合生成/ LBIST逻辑的体系结构中使用导师的Tessent TestKompress TK / LBIST混合DFT IP。
汽车ICs使用美国的LBIST,您可以将这两种技术结合到混合生成/ LBIST方法。一度独立的生成和LBIST逻辑合并所以扫描压缩IP也可以应用BIST测试,这种技术采用了增加汽车IC设计师之一。混合试验方法是由所有的更好的混合测试点。而不是使用单独的LBIST测试点地址随机模式阻力和生成测试点计数减少模式,您可以使用混合测试点目标扫描压缩和阿拉伯学者以大幅度减少测试时间和成本没有损失的测试覆盖率。
混合生成/ LBIST和混合测试点
混合生成/ LBIST测试策略提高制造业的测试覆盖率,提高了在系统测试任务关键型汽车ICs。完全片上LBIST伪随机模式适用于电路和响应收集在一个多输入签名登记(MISR)。然而,它可能需要大量的模式,和一个相对较长的时间,达到所需覆盖的目标。传统LBIST测试点(图2)提高测试覆盖率打破区域内电路抗随机模式,如大量的逻辑集中在编码或解码。取代传统LBIST测试点与混合测试点改善覆盖更多。以另一种方式看,混合测试点使用标准10倍少的模式实现90%的覆盖率。较小的测试集可以帮助在系统测试运行得更快,这是重要的测试在功能操作。
图2。BIST测试点提高测试覆盖率,但可以增加模式所需的数量,提高系统测试时间。
表1显示了改进测试覆盖率与混合测试点在美国东部时间或LBIST分别测试点。之间的平均测试覆盖改善传统LBIST测试点和混合测试点是3.25%。
表1。改善LBIST测试覆盖率(TC)与三个不同的测试点。导师的VersaPoint混合生成/ LBIST测试点比美国或LBIST测试点测试覆盖率。
更好的在一起
混合生成/ LBIST测试点把所有美国的好处和LBIST测试点和工作比单独类型的测试点。他们可以针对压缩模式计数减少和阿拉伯学者报道与更高级的测试点分析和插入算法。对于一个汽车IC,混合测试点提供更好的在系统测试覆盖率,这是重要的安全完整性水平满足ISO 26262要求,实现汽车(ASIL) C和D认证水平。
几家大型半导体公司已经在使用混合测试点在安全至上的DFT而不是单独LBIST和生成测试点。需要一点点额外的计划转向混合生成/ LBIST测试方法,但节省测试成本和获得safety-compliant设备市场更快的努力是完全值得的。
学习更多在我们的白皮书中,提高系统测试Tessent VersaPoint测试点技术。
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