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测试数据设计


随着设计深入到数据驱动的架构中,测试也是如此。西门子数字工业软件公司DFT和Tessent硅生命周期解决方案的产品管理总监Geir Eide在接受《半导体工程》采访时谈到了将可测试性设计到芯片中的一个微妙但重大的转变,这样测试数据就可以在设备生命周期的多个阶段使用。»阅读更多

利用Tessent VersaPoint测试点技术改进系统内测试


本文描述了一种名为VersaPoint的新的通用测试点技术,该技术专门用于实现混合EDT/LBIST方法的设计,以减少EDT模式计数并提高逻辑BIST (LBIST)测试覆盖率。VersaPoint测试点可以将压缩模式计数减少2倍到4倍,并提高LBIST测试覆盖率。»阅读更多

提前规划汽车集成电路的系统内测试


汽车越来越像电子设备,而不是机械平台。作为汽车总成本的一部分,电子元件从1970年的5%增长到2010年的35%。预计到2030年,电子产品将占到50%(德勤,2019年)。一些电子设备用于被动操作,如显示器或车载信息娱乐系统(IVI),但越来越多的电子设备用于被动操作。»阅读更多

改进汽车系统内测试的简单方法


汽车IC设计的显著增长促使人们关注ISO26262功能安全符合性,其中包括高质量的制造测试和系统内测试的最低卡在测试覆盖率为90%。设计人员还必须控制IC测试数据量、测试应用时间和测试成本。一种新的测试点技术,提高了系统内测试覆盖率,减少了故障。»阅读更多

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