如何减少压缩模式计数并提高测试覆盖率。
本文描述了一种名为VersaPoint的新的通用测试点技术，该技术专门用于实现混合EDT/LBIST方法的设计，以减少EDT模式计数并提高逻辑BIST (LBIST)测试覆盖率。VersaPoint测试点可以在仅压缩的基础上将压缩模式计数减少2倍到4倍，并提高LBIST测试覆盖率，超出当前行业标准算法所能做到的范围。这些改进通过工业测试用例的实验数据得到了证明。
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