创造可以在其预期生命周期内进行测试的芯片。
随着设计深入到数据驱动的架构中，测试也是如此。西门子数字工业软件公司DFT和Tessent硅生命周期解决方案的产品管理总监Geir Eide在接受《半导体工程》采访时谈到了将可测试性设计到芯片中的一个微妙但重大的转变，这样测试数据就可以在设备生命周期的多个阶段使用。
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