测试挑战成长

半导体工程坐下来讨论当前和未来的测试挑战与戴夫·阿姆斯特朗,业务发展总监效果显著;硅产品营销主管史蒂夫•接线盒在导师图形测试解决方案;罗伯特•鲁伊兹Synopsys对此高级产品营销经理;总裁迈克Slessor形状因子;首席执行官和丹Glotter优+。

SE:在我们最后的讨论中,我们谈论的是测试成本。有更多问题的测试成本吗?

Slessor:如果我们都看着相同的测试问题,这是一个简单的问题来驱动测试成本下降。但是你不断追求越来越多的复杂需求。作为供应商,我们显然需要进行投资以满足技术要求。所以,你正在追逐一个移动的目标在技术方面,而被要求压低任何的边际成本。可能每个模具的成本或成本/晶体管。此外,该行业的比例仍然是受到古典前端摩尔定律。有很多更多的技术要求,我们被要求满足前端光刻的轨迹上加速。这是一个有趣的问题,我们有一定的研发预算和某一组工程师。这些问题我们真的应该关注降低测试成本,而满足这些加速技术要求?所以,我们的一个基本的挑战是这整个的经济。

Glotter我想提供一种不同的方法测试的成本。我们看到在过去两到三年是一个巨大的点球质量和可靠性。在一天结束的时候,测试最初是去或不去。但今天,我们知道客户或潜在客户,失去了商业已知的供应商,因为他们无法保持正确的质量和可靠性水平。今天,很容易由各次测量。我们看到上市公司失去了整个线路。和,他们失去了一切。他们可能试图缩小测试这个或那个的成本,但这就变成了一个非常危险的游戏。这给我带来的定义什么是测试的成本。通常,成本计算的一个测试人员,探测器,探测器卡和其他消耗品。 Today, none of our customers would dare do testing only with that. Now, they are bringing in software tools in order to obtain data from wafer sort to final test. So I think it’s going in a completely new direction. I think we need to look at the cost of test very differently. Test, in relation to quality and reliability, are the name of the game. This is a good era for test.

SE:我们看到一个主要的整合浪潮吃行业多年来。这是好或坏的行业吗?

Glotter:记住,我们是一个软件公司。5到10年前,我们整合技术与十几个吃了供应商。今天,已经减少到两个或三个。它使我们的生活更容易。它也使我们的客户更容易的生活,他们可以花钱研发更为恰当。没关系如果EDA,探针卡或测试人员。有预期客户设置。和你没有一个无限量的研发资金,可以遍布。

Slessor:整合一直在回答一个基本问题需要一定的投资集中在解决问题在各种各样的公司。它没有很多的意义,如果你有大量的冗余。现在,如果你只有一个供应商,我们的大多数客户非常不喜欢这样。他们不会让这种情况发生。只要你有各种工具厂商和研发和资源的有效利用,产业在一个合理的平衡位置,考虑到整个半导体市场。

阿姆斯特朗:当然可以,效果显著的合并和Verigy健康的两家公司,在我看来。从客户的角度来看,我很高兴地说,我们取得了优异的成绩。合并客户,曾经怀疑,说:“我是一个双重供应商吃店。“现在,他们高兴地说:“我们是一个显著的商店。

鲁伊斯我将解释这个问题吃了整合和EDA的影响。简单地说,没有多大影响的我们的客户在说什么。这通常是因为客户今天针对运行多个测试人员测试程序。通过使用标准,测试程序标准。

SE:我们如何测试下一个系统级芯片(SoC)或giga-gate设备吗?

接线盒:这与重用。人们利用IP重用。测试必须沿着。所以,你需要分层测试策略,重用模式。你必须DFT重用模式。你还需要更好地获取这个IP在SoC。所以你有新的标准IEEE IJTAG P1687,例如。它还没有通过,但是我们看到很多兴趣。现在提供了一个标准化的方式与这些不同部分的IP设计调试。这也可以归结为我的上市时间参数。 You need to do this quickly and efficiently. Let’s say you have multiple pieces of IP. You might have high-speed I/Os, clock generators, PLLs and various instrumentations. You have to initialize these things, get them tested and debug them in a timely fashion. A methodology where you can deal with a slew of third-party IPs in an efficient way is critical. Standardization, and the automation to support that standardization, is critical.

鲁伊斯:分层测试是绝对需要的东西。在某些方面,你可以认为它是分而治之,特别是对最大的设计和出类拔萃。再一次,我将回到我之前声明关于集成测试与设计。为了使这些技术,这是如何规范的问题。大公司的资源,他们可以离开,构建自己的方法和分层测试。事实上,这就是今天发生的。有一个问题对于那些买不起这些资源。他们如何去开发一个方法吗?我们看到的最好的回应路径使用标准。例如,IEEE 1500标准。 Standards help enable designs for a broader set of customers. But it also has to be tied back to the design and to not break the performance goals, power goals and area goals of a design.

Glotter今天我们正在努力做的事:大多数是开发技术更快,更好,更便宜。我们也在努力做的事情没有做,直到今天。这是一切在一起的集成测试流程。例如,也是,有一个术语叫前馈数据。正如我之前所说的,我认为我们的大多数客户今天不敢做测试没有feed-backwards前馈数据或数据。与此同时,如果你谈论标准,它变得很麻烦。当你看一个multi-chip包什么的,你有一个公司有足够的资金来整合标准。然后,你有另一个公司,会把东西放在一个设计不正确的标准。但问题是,一切需要商量。

鲁伊斯我想澄清一些事情。有大公司有资金和资源。他们有足够大的团队,他们可以做特别的方法,而标准实际上使技术更广泛的客户。

Glotter:这是正确的。但有时,这不是同样的游戏。这是一个简单的例子。在multi-chip包中,可以看到某些部分来自英特尔、东芝等等。他们有一定的质量水平。然后,有设备由他人。然后你需要把一切都要考虑进去,做一些设备说某种语言。

阿姆斯特朗我想跟进。我同意出版商必须设计这些以数字化为评论。当然,我同意有一些大趋势我们需要遵循。但在SoC的空间,有一件事,我们特别需要担心关于权力。在今天的设备为王。几何图形缩小,我们的噪音利润率利润和时间变得更少。我们可以随机错误,任何地方、任何时间出现。面临的挑战是,每个人都希望他们的手机持续一个非常,非常长的时间。当然,有一个模拟或射频元素。今天,权力方面是我关注的一个重要趋势,除了数字的趋势。

SE:我听说需要使用protocol-aware soc的测试技术。换句话说,我们需要回到功能测试以测试复杂的soc ?

阿姆斯特朗:Protocol-aware技术,真正有助于上市时间的问题。它可以帮助设计和测试工程师说同样的语言。有很多其他的术语是为了使测试更有效率。但对soc,测试正在改变。我们作为一个行业必须找出如何面对。此外,摩尔多的是真实和设备也正在改变。例如,如果有一个复杂的MEMS传感器部分,我们必须处理。

SE:我们可以测试soc和其他复杂的芯片在晶圆级?

Slessor:明显的答案是否定的。的做事方式,主要以一种进化的方式。它可能会采取一些投资在技术适应性测试。不过今天晶圆测试完成,所以,你不是包装坏的部分在第一批订单。还有一群失效模式与包装相关的那些部分,包装是否单独或与multi-chip模块。这样的模型能够解决一切在晶圆级,或大多数事情的晶片的水平,实际上是不同的。你尝试和测试更多的事情在晶圆级别。然后你将他们聚集在一起,看到设备的交互模式。所以,晶圆测试仍然是重要的,因为你不想杀你的微处理器50美分的DRAM。但这并不是一劳永逸的。

Glotter:我们是回到晶片测试的黄金时代。几年前,有一个趋势从晶圆测试更多的最终测试。但是今天,不管它是一个MCP或wafer-level包。你可以测试它在晶圆测试级别越好。

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