测试更复杂的汽车,物联网

越来越关注安全至上semiconductors-driven ADAS,物联网,通过屋顶和security-functional安全问题。工程团队正忙于确定如何进行更好的攷虑或在线测试,因为测试不再可以马后炮。

这是一个共同的主题在整个汽车生态系统在过去的几年中,随着汽车电子市场继续增加了新的紧迫感。但随着,进行这些测试方法和影响的力量参与这些测试受到审查,因为它们影响产量增加,质量和长期可靠性的系统。

“测试工程师和功能性设计师今天提高这些问题他们解决他们如何适应这一点,”Rob Knoth观察数字和产品管理总监审核小组节奏。“共同的主线是测试功能系统的一部分,所以它更像是另一个操作模式。这意味着测试必须有非常紧密的联系的RTL功能仿真,仿真,以及电力系统的分析,因为它会创造难以置信的热点。”

路加福音Schreier,自动化测试营销主管国家仪器同意了。”不同的技术的融合块systems-on-a-chip或systems-in-a-package,工程团队结合不仅处理器设计的元素可能传统DFT处理或扫描或其他技术,射频旁边或权力或传感器或其他的事情使这种连接在物联网空间越来越普遍。当我们进入汽车雷达和司机帮助,除此之外,还有部分,由于芯片的性质,将安全至关重要。你是否有一个好的阿拉伯学者(内建自测)方法验证功能是至关重要的。可能还有监管标准,需要以某种方式测试。”

特别是它与传感器或ADAS,也需要仔细考虑工作的软件算法结合的传感器数据来自这些芯片。有很多的校准要求正确处理这个问题。

“因此,这些设备总是重新调整自己,“Schreier说。”的每一个部分,模拟验证,有时修剪,然后验证与其他算法应该补偿过程违规行为或在设备上获得最大效率,建立。你不能取代任何普遍的DFT技术,所以你最终不得不这么做测试。”

但实际测试模式可以这么复杂,原位测试,或者做一个完整的系统仿真,是很困难的。所以测试模式放到芯片能够利用任何内部阿拉伯学者是可能的,比如子系统,它不需要完整的堆栈的协议或算法来验证它的存在。

“这是发生在细胞和无线设计多年来,在这些设备上的实际打电话并不经济,”他说。“射频前端或功率放大器都有测试模式,可以把芯片验证的一些内部结构的目的,和一个很好的感觉,它将使用它的通信协议上,就像一个没有苦难的卷方式测试时间。所有的这些都是测试目前进入玩。”

额外的电力来自测试模式的挑战
然而,有一些开销与测试。与功能模式相比,例如,测试模式增加了力量的挑战。

“更高数量的设备切换所有在同一时间在测试模式下,“Preeti Gupta说,PowerArtist产品管理主管有限元分析软件。“即使测试模式运行在一个较慢的时钟,大量的电流被画在很少的时间后时钟边缘。这个高电流夫妇on-die和包电感,Ldi / dt,它导致显著的压降和错误的逻辑状态。结果是制造业产量loss-parts好工作的功能模式,但在测试模式产生坏的结果。萎缩的几何图形,让包装更多的设备在同一地区和多核设计进一步加剧的并发量转换和随后的平均峰值,di / dt和热的问题。”

从动力输送网络的角度来看,有几个实例扫描模式失败的芯片由于过度的电压降,和确保电网完整性测试模式已成为一种强制性的签字要求,古普塔说。“设计团队正在迅速分析长测试模式生成的仿真器来识别power-critical峰值和di / dt windows后续动力输送网络的瞬态分析。事实上,权力的完整性不应该是一个事后的想法。功率输出网络设计必须占测试需要早。”

幸运的是,存在多个有趣的技术,可以控制电流测试模式,包括低功耗技术,如时钟门控。传统上是关闭在测试模式更好的可观测性,但是现在可以做在一个控制方式,古普塔说。另外,电网设计和测试策略可以优化预先为昂贵的测试资源的最大利用率,同时确保鲁棒性。

沿着这些线路,高级职员的技术营销经理克里斯•Allsup设计小组Synopsys对此指出,各种各样的DFT优化,生成算法,测试技术和验证方法已经开发管理生产测试能力问题。

其中一个是节能生成时间,他说。因为rails在设备设计功能操作,切换活动由于扫描测试水平的增加可能会导致额外的和潜在的生产测试期间过度IR降和错误的失败。专门的算法可以部署管理活动由它生成的测试模式切换。如果转移能力需要进一步减少,工具可以应用借助硬件转变功率降低技术,如自动零转移到整个在扫描插入扫描链,和控制逻辑的功能输出扫描细胞。节能优化连锁门只有那些雇佣或扫描细胞功能逻辑切换活动最大的贡献。

管理生产测试能力问题的另一个方法是减少DFT在任务模式中,Allsup说。“重要的是,任何DFT电路不会增加动态功耗设计时以其任务模式运行(即。在功能状态)。一些图书馆包含扫描细胞和一个专门的扫描输出引线,通常是一个缓冲版本的功能输出。”

支持扫描细胞也可以门这个专用的扫描输出功能模式期间尽量减少切换活动在不同的扫描链网。第二个不必要的功耗来源则是虚假的交换活动中创建压缩的逻辑。为了避免这种情况,阻止逻辑可以添加到抑制所有交换活动的功能逻辑在压缩机的输入,除了扫描链转移时,他说。

也为设计,所有电力领域总是在断层模型应该允许高水平换档器测试覆盖率的缺陷。然而,对于设计与关闭状态和可能保留细胞,需要多个功率状态的设备测试达到较高的测试覆盖率低功率设计元素,因为有特定的缺陷可能不是由不间断测试。测试足够多的力量,每一个可切换的能力域设置为不活跃的状态至少一次,将允许这些额外的缺陷敏感。然后使用多种技术观察缺陷的低功耗设计元素,如孤立的细胞,保持细胞,电源管理,和电源开关,Allsup解释道。

最后,重要的是要执行特定的设计和模拟检查来验证测试在低功率设计包括:

• 低功率DFT结构和节能测试模式的验证;
• 在DFT实现静态检查,
• 验证正确的权力行为在Verilog模拟生成的测试模式。

测试一直是妖怪,最严重的病理情况下创建的测试人员。

“更有趣不是扫描,但诸如LBiST MBiST它并不是坐在试验机但现在的产品,“Knoth说。“这实际上是移动。理解能力影响的试验将在那里创建了一个巨大的相互作用模拟。”

可以肯定的是,有如此多的股份ADAS等应用程序,测试就变成了另一个操作模式,这里的设备正在进行战斗是有原因的。

“工作负载的体积,他们必须证明这个东西是功能安全要求他们搬到模拟器,”他说。“现在你有这个测试组件。如果你倒带时钟,很多测试是在大门口level-scan插入,BiST插入。但是我们不能这样做了。我们必须证明它的功能,我们必须看看担忧。”

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