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白皮书

系统级测试-半导体质量控制的新范式

如何缩小生产级测试的差距,提高覆盖率以避免失败。

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本解决方案涵盖了半导体系统级测试的历史和趋势,简要讨论了:

  • 在汽车、移动计算、可穿戴设备等应用领域测试先进半导体集成设备的复杂性日益增加;
  • 半导体趋势推动了测试方法的必要转变,包括SiP、SoC、3D finfet、异构组件等;
  • 测试逃避的真实代价;
  • 如何缩小生产水平测试的差距,以及
  • 创建具有成本效益的、100%测试覆盖策略的新范例,以防止昂贵的故障和召回。

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