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作者最新文章

系统级测试-半导体质量控制的新范式
通过天体电子学- 2018年11月5日-评论:0

本解决方案涵盖了半导体系统级测试的历史和趋势，简要讨论了:在一系列应用中测试先进半导体集成设备的复杂性日益增加:汽车、移动计算、可穿戴设备等;半导体趋势推动了测试方法的必要转变，包括SiP, SoC, 3D finfet，异质复合…»阅读更多

系统级测试:它适合在哪里?
通过天体电子学- 2018年9月17日-评论:0

我们的第二个C-Brief讨论了系统级测试(SLT)最适合半导体测试工作流程的位置。使用自动化测试设备(ATE)，传统的工作流程可能包括:晶圆分类(WS)封装后老化(BI)结构测试(ST)和功能测试(FT)的结合。随着对大批量制造业的需求转向更广泛的工业和com…»阅读更多

系统级测试的财务理由
通过天体电子学- 2018年7月23日-意见:0

目前有三个独特的趋势正在改变半导体行业的大批量制造:芯片架构的日益复杂(例如FinFET、异构集成);消费电子产品(如物联网、移动和汽车)的广度和普遍性的爆炸式增长，以及消费者对不断更新、更便宜、更先进的节点的期望. ...»阅读更多

动力、照明和EVS如何提高旋翼的安全性和性能
通过天体电子学- 2018年5月7日-评论:0

旋翼机在包括消防、警察工作、紧急医疗服务(EMS)、石油和天然气运输以及搜索和救援(SAR)等广泛的关键任务行业中执行坚固的任务，集成新技术优化了车辆的安全性和操作性能。无论是线适合或改造，旋翼机，在崎岖的，退化的环境中操作，在…»阅读更多

天文测试系统和塔博尔电子结束过时的海军空军
通过天体电子学- 2017年8月7日-评论:0

报废。大多数终端用户并不喜欢这个词。灵活性、可选项、延长的产品寿命——这些词为最终用户的测试环境带来了宽慰。然而，尽管如此，过时是测试行业必须面对的一个因素。当美国海军航空系统司令部(NAVAIR)面临过时的主要测试和测量OEM，他们转向Astr…»阅读更多

大规模并行系统级测试
通过天体电子学- 2017年6月5日-评论:0

半导体行业几十年来的进步继续推动着消费者对更小、更强大、更无处不在的设备的需求——无论是在我们的汽车上、在我们的台面上还是在我们的手腕上。为了满足现在和未来的这一需求，制造越来越复杂的半导体系统，以满足令人难以置信的应用范围，必须相应地扩大。Additio……»阅读更多

系统级测试
通过天体电子学- 2017年4月10日-评论:0

半导体系统级测试白皮书。本解决方案涵盖了半导体系统级测试的历史和趋势，简要讨论了:在一系列应用中测试先进半导体集成设备的复杂性日益增加:汽车、移动计算、可穿戴设备等;半导体趋势推动测试方法的必要转变…»阅读更多

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