半导体的新的质量控制方法。
几十年的半导体行业的进步继续推动一个较小无法满足消费者的需求,更强大,更无处不在的设备——无论是在我们的汽车,我们的台面或在我们的手腕。满足这一需求现在和未来,制造日益复杂的应用程序必须规模的半导体系统一个不可思议的频谱。此外,标准的质量控制需要超过目前的水平由于对安全性要求苛刻的应用程序和品牌认知。同样,测试方法必须解决这个新兴的复杂性和全面评价被测设备(dut)缺陷出现在现实世界的情况。最后,他们需要达到预期的产品收益率影响最小的时间和成本。随着行业走向水运制造更加复杂的系统和可以顺利出货,必须创建一个新的范式的质量控制也满足生产需求。范式是大规模并行系统级测试(SLT)。
点击阅读更多在这里。
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
留下一个回复