DFT用于测试流扫描网络的复杂soc。
基于总线的分组扫描数据解耦了测试交付和核心级DFT需求，因此可以完全独立于芯片I/O限制定义核心级压缩配置。为并发测试分组的核心是通过编程选择的，而不是硬连接的。这个概念极大地减少了DFT的规划和实现工作。
Siemens用于打包交付扫描测试模式的解决方案Tessent流扫描网络(SSN)是当今复杂soc在DFT方面的重大进步。它可以用很少的芯片级引脚同时测试任意数量的核心，还可以减少测试时间和测试数据量。有了SSN, DFT工程师就有了真正的SoC DFT解决方案，而无需在实现工作和制造测试成本之间做出妥协。本文描述了SSN的基本组成部分，并介绍了其使用的简短案例研究。
SSN解决了复杂soc中的扫描分布难题
如今，DFT工程师面临着传统pin-mux扫描测试方法的挑战，包括:
测试流扫描网络(SSN)通过解耦测试交付和核心级DFT需求来解决这些挑战。使用SSN，核心的压缩和扫描通道数量是根据该核心本身的最紧凑模式集来确定的。
SSN的实现流程是基于Tessent Shell流程进行分层设计的。SSN完全由Tessent TestKompress和Tessent Diagnosis支持，并且可以与所有其他Tessent DFT技术(如TessentMemoryBIST和Tessent LogicBIST)共存。
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