中文 英语

标签:流扫描网络

分组扫描测试
通过西门子EDA- 2022年12月6日-评论:0

基于总线的分组扫描数据解耦了测试交付和核心级DFT需求，因此可以完全独立于芯片I/O限制定义核心级压缩配置。为并发测试分组的核心是通过编程选择的，而不是硬连接的。这个概念极大地减少了DFT的规划和实现工作。西门子解决方案的打包熟食…»阅读更多

测试堆栈:DFT已为3D设备做好准备
通过马丁Keim- 2022年9月8日-评论:0

当现有的先进2D设计已经突破了测试设计(DFT)工具的极限时，开发者对3D设备的DFT管理还有什么希望呢?谁能负担得起工具的运行时间、芯片上的面积需求、模式计数和测试时间?来自专家的答案是肯定的，有一条可扩展的、负担得起的、全面的3D ic DFT解决方案的途径。条策略……»阅读更多

打包扫描数据的成功案例
通过盖尔·艾德- 2021年12月7日-评论:0

一些新的测试设计(DFT)技术实现起来困难、昂贵或有风险，但提供了显著的好处。其他技术很容易实现，但改进很小。是否(或何时)采用新技术的计算包括考虑当今DFT的压力-设计复杂性，硬布线扫描通道缺乏灵活性，扩散…»阅读更多

分组扫描测试的时代已经到来
通过盖尔·艾德- 2021年9月7日-评论:0

几十年来，过程和设计扩展已经触发了变革性测试解决方案的采用。大约20年前，当高速测试成为一种实际需求时，片上压缩成为解决测试数据时间和容量问题的标准。在过去的十年中，分层DFT使DFT工程师能够在大型设计中应用分而治之的方法，提高了实现的工作量和…»阅读更多

流扫描网络
通过西门子EDA- 2021年7月12日-意见:0

由于设计尺寸、设计复杂性和测试适应性的急剧增加，将扫描测试数据从芯片级引脚移动到核心级扫描通道的传统方法面临压力。在将扫描测试数据传递到核心的传统方法中，每个核心都需要一个专用的到芯片级引脚的连接，这不允许有太多的灵活性，因为两者之间的依赖关系…»阅读更多

分组扫描测试交付
通过盖尔·艾德- 2021年7月6日-意见:0

由于设计尺寸、设计复杂性和测试适应性的急剧增加，将扫描测试数据从芯片级引脚移动到核心级扫描通道的传统方法面临压力。为了解决这些挑战，我们现在可以选择实现一个用于扫描测试的分组数据网络，它可以比传统的针…»阅读更多

用不妥协的DFT拥有一切
通过盖尔·艾德- 2021年1月28日-意见:0

当今大型复杂soc制造测试时间的急剧增加，根源于使用传统方法将扫描测试数据从芯片级引脚移动到核心级扫描通道。引脚多路复用(mux)方法适用于较小的设计，但随着当今soc上核心数量的增加和设计复杂性的增加，可能会出现问题。下一次旋转……»阅读更多

  • 赞助商

关于

导航

与我们联系

版权所有©2013-2023 SMG |服务条款|隐私政策
Baidu