一种不妥协的DFT方法。
由于设计尺寸、设计复杂性和测试适应性的急剧增加，将扫描测试数据从芯片级引脚移动到核心级扫描通道的传统方法面临压力。在将扫描测试数据传递到核心的传统方法中，每个核心都需要与芯片级引脚的专用连接，这不允许有太多的灵活性，因为核心和芯片级引脚之间的依赖关系在设计期间只设置一次。在自底向上的流程中，DFT工程师通常为每个核心分配固定数量的扫描通道，通常每个核心分配相同数量的扫描通道。这是最简单的方法，但它最终会浪费带宽，因为分组在一起进行测试的不同核心可能具有不同的扫描链长度和模式计数。这种方法的其他问题包括扫描测试可用的有限I/ o、有限的核心级通道以及路由拥塞的可能性。
pin-muxed扫描方法也不允许随时间调整测试数据的变化。例如，随着产量的增加，某些核心可能不再需要某些模式类型。或者，晶圆测试、封装测试和系统内测试可能需要不同的分配。
像Tessent流扫描网络这样的打包扫描测试交付提供了一种更有效和可调的方法。其思想是通过连接到设计中的所有核心或块的统一网络交付扫描测试数据。进出芯片的数据看起来不像传统的扫描测试数据，而是被组织在数据包中，网络知道如何在每个核心转换成更传统的扫描数据。SSN方法基于将内核级测试需求与芯片级测试资源分离的原理，通过使用高速同步总线将分组扫描测试数据交付到核心。
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