总线扫描数据分布需要世界的风暴。
几十年来,过程和设计扩展引发了变革性的采用测试解决方案。大约二十年前,当速度测试成为一个实际需求,芯片上的压缩成为规范来解决测试数据时间和体积。在过去的十年里,分层DFT启用DFT工程师应用分治法在大型设计,提高实现工作和测试成本。今天,这个行业正在经历类似的转换,采用通过扫描测试交付。推动这种转变的持续设计扩展,使分层DFT非常耗费时间的有效实施,以及更新的实现风格,如瓷砖设计与桥台和2.5 d / 3 d包装。
流扫描网络,介绍了不到一年前由西门子数字行业软件,是第一个商业完全流通的实现通过扫描测试。在今年引入以来,这个行业已经采用了这种技术的速度比其他任何类似的变革DFT技术,包括嵌入式确定性测试(美国东部时间)。
流扫描网络(SSN)由一个总线提供扫描整个SoC测试数据,和一个主机节点在每个核心,拿起并返回的数据总线。该实现将个人核心的DFT要求从芯片级测试交付资源。图1说明了SSN的基本架构。
2020年国际测试会议,英特尔公布他们的评估结果SSN。比较传统pin-mux SSN方法方法,他们报告测试数据量的减少43%,减少测试周期的43%。实现和测试快10 x-20x之间重新定位目标任务。在即将到来的国际测试会议2021 (ITC),其他一些SSN用户将他们的经验。
通过扫描测试的概述
与传统方法提供扫描测试数据核心,每个核心需要一个专门的连接到芯片级别针,SSN提供扫描数据数据包在一个共享的公共汽车。这将创建一个非常有效和可调系统。设计师不需要分配一个固定数量的扫描每个核心渠道或担心潜在的路由拥塞。
SSN提供扫描测试数据在一个统一的网络,连接到所有的核心或块设计。的数据转移的芯片不像常规扫描测试数据但在包被组织和翻译成更常规的扫描数据在每个核心了。
SSN,测试控制器的地方;核心级主机节点生成DFT在本地信号,确保从正确的数据总线和发送扫描输入的核心和输出数据放置到公共汽车。每个节点都知道要做什么和什么时候去做基于一个简单的配置步骤利用IJTAG (IEEE 1687)基础设施。
采用收益与成本
一些新技术困难、昂贵的或危险的实现。进入成本/收益分析的变量很多,具体到每个芯片制造商。芯片设计的压力today-design复杂性,缺乏灵活性的硬接线扫描频道,相同的核心和瓦设计的扩散进入计算。的挑战tomorrow-re-use高速I / Os扫描测试,测试3 d ICs和增加带宽进行测试应该也被考虑。
SSN所需要的是解决这些挑战的高度自动化,兼容现有的DFT和设计流量,一个共同的架构的设计类型和可靠的供应商的支持。许多领先的半导体公司已经算计好了,决定采用Tessent SSN通过测试解决方案。
具体SSN的好处包括减少DFT开发时间减半,宽松路由和定时关闭,减少测试时间和测试数据4 x。
总结
SSN的方法是基于解耦原则核心级测试需求从芯片级测试资源通过高速同步总线提供通过岩心扫描测试数据。这是与领先的半导体公司合作开发的将扫描测试数据交付进入快车道。
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