分组扫描测试的时代已经到来

通过盖尔·艾德- 2021年9月7日-评论:0

几十年来，过程和设计扩展已经触发了变革性测试解决方案的采用。大约20年前，当高速测试成为一种实际需求时，片上压缩成为解决测试数据时间和容量问题的标准。在过去的十年中，分层DFT使DFT工程师能够在大型设计中应用分而治之的方法，提高了实现的工作量和…»阅读更多

新的内存会增加新的错误

通过布来安梅奥- 2021年9月7日-评论

新的非易失性存储器(NVM)为改变我们在片上系统(soc)中使用内存的方式带来了新的机会，但它们也为确保它们按预期工作带来了新的挑战。这些新的内存类型——主要是MRAM和ReRAM——依赖于独特的物理现象来存储数据。这意味着在它们被释放之前，可能需要新的测试序列和故障模型。»阅读更多

通过Mentor是西门子旗下的企业- 2015年1月22日-意见:0

嵌入式测试压缩早在十多年前就已投入商业应用，并且已经扩展到远远超出首次引入时所设想的100倍范围。然而，由于新技术节点以及针对标准单元内缺陷的新故障模型所实现的门数不断增长，这推动了对更高压缩级别的需求。本文介绍了一种令人兴奋的新技术——卡尔…»阅读更多