通过系统内无损内存测试、混合ATPG/逻辑BIST和模拟测试覆盖率测量，最大限度地提高缺陷覆盖率。
随着汽车行业向更高程度的自动化发展，用于驱动汽车电子系统的ic供应商正在迅速采用满足ISO 26262要求的解决方案。Tessent系列IC测试产品提供最高的缺陷覆盖率，系统内无损内存测试，混合ATPG/逻辑BIST和模拟测试覆盖率测量。这些技术构成了一套全面的测试解决方案，可满足ISO 26262标准要求的质量和可靠性指标。本文介绍了用于测试汽车应用ic的数字和模拟部分的高级测试功能。
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