中文 英语

标签:内建自测

在设计流程的早期准备测试
通过Ann Steffora Mutschler- 2022年3月2日-评论:0

直到最近，半导体设计、验证和测试都是独立的领域。由于对可靠性的需求不断增长，市场窗口越来越短，芯片架构越来越复杂，这些领域已经开始合并。在过去，产品都是从功能的角度来设计的，设计师并不关心产品的物理实现……»阅读更多

高质量测试和嵌入式分析对于安全soc至关重要
通过李哈里森- 2022年1月11日-意见:0

诸如智能卡和国防工业中使用的设备等应用程序需要安全性，以确保外部代理无法访问敏感数据。这曾经是通过定制解决方案来满足的利基需求。然而，现在汽车和网络物理系统正在激增，围绕安全测试和监控的需求正在成为主流。目前最好的策略是……»阅读更多

mbist支持的Trim调整以补偿MRAM的热行为
通过技术文件链接- 2021年9月3日-评论:0

摘要:自旋转矩磁随机存取存储器(STT-MRAM)是最有希望取代传统嵌入式存储器(如静态RAM和动态RAM)的候选存储器之一。然而，由于MRAM单元的开/关比很小，工艺变化可能会降低芯片的操作裕度。建议将参考修边作为减少变化对气的影响的方法之一。»阅读更多

Tessent LogicBIST与观察扫描技术
通过西门子EDA- 2021年2月3日-评论:0

满足ISO 26262对高质量和长期可靠性的要求，实现IC逻辑高缺陷覆盖率的片上安全机制。本文介绍了一种新型的逻辑自建测试(BIST)技术——观察扫描技术，该技术提高了逻辑自建测试质量，缩短了系统内测试时间。实证结果表明，90%的测试覆盖率高达10倍…»阅读更多

如何通过内置自检满足功能安全要求
通过李哈里森- 2020年6月04日-评论

随着当今汽车中半导体含量的快速增长，IC设计人员需要改进流程，以满足ISO 26262标准定义的功能安全要求。ISO 26262标准定义了功能安全级别，即汽车安全完整性级别(ASIL)，是汽车系统设计过程的强制性组成部分。ASIL类别包括…»阅读更多

伟大的测试模糊
通过埃德·斯珀林- 2019年8月6日-评论:0

随着芯片设计和制造的左右转变，对可靠性的担忧突然成为前沿和中心。但要弄清楚到底是什么导致了芯片故障，或者至少是不符合性能和功率的规格，变得越来越困难。这里有几个趋同的趋势，每一个都在提高可靠性方面发挥着不可或缺的作用。但角色有多重要……»阅读更多

使用Tessent IC测试解决方案满足ISO 26262要求
通过Mentor是西门子旗下的企业- 2019年7月8日-评论:0

随着汽车行业向更高程度的自动化发展，用于驱动汽车电子系统的ic供应商正在迅速采用满足ISO 26262要求的解决方案。Tessent系列IC测试产品提供最高的缺陷覆盖率，系统内无损内存测试，混合ATPG/逻辑BIST和模拟测试覆盖率测量。这些技术加起来…»阅读更多

BiST在汽车行业成长
通过Ann Steffora Mutschler- 2019年6月12日-评论:0

在传统半导体和SoC设计中使用多年的测试概念和方法现在正被用于汽车芯片，但它们需要进行调整和升级，以便在车辆运行期间监测先进的汽车系统。汽车和安全关键设计具有非常高的质量、可靠性和安全性要求，这对…»阅读更多

可靠性成为汽车行业最关注的问题
通过埃德·斯珀林和苏珊·兰博- 2019年2月12日-评论:4

在半导体最热门的增长市场，包括汽车、工业和云计算，可靠性正成为最优先考虑的问题。但是，与每两到四年更换一次芯片不同，其中一些设备预计可以使用长达20年，即使在有时极端的环境条件下使用频率更高。这种优先事项的转变具有广泛的影响……»阅读更多

为什么考试费用会增加
通过埃德·斯珀林- 2018年10月8日-评论:0

考试的经济学正受到围攻。长期以来，这被视为确保芯片质量的必要但相当平凡的步骤，或者是在电路仍在使用时从内部测试电路的一种方式，制造商和设计团队很少关注从设计到制造流程的这一部分。但是问题已经在三个不同的领域出现了一段时间，而且它们可能会产生影响。»阅读更多

←老帖子

  • 赞助商

关于

导航

与我们联系

版权所有©2013-2022 SMG |服务条款|隐私政策
Baidu