减少在系统测试时间为长期可靠性和高缺陷覆盖率。
满足ISO 26262要求高质量和长期可靠性芒实现片上安全机制缺陷覆盖率高的集成电路逻辑。介绍了观察扫描技术,一个新的新逻辑built-in-self-test(阿拉伯学者)技术,提高了逻辑BIST测试质量,降低系统测试时间。实证结果表明90%的测试覆盖率高达10倍少LBIST模式与以前相比行业领先LBIST解决方案。
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