标签:逻辑阿拉伯学者

不要让阿拉伯学者X是一个问题的逻辑
通过拉胡尔Singhal2021年10月- 12 -评论:0

拉胡尔Singhal和Giri Podichetty失败操作的集成电路芯片(ICs)或部署在对安全性要求苛刻的应用,如汽车、医疗、航空航天可能产生灾难性的后果。这些失败可能源于缺陷逃脱制造的芯片测试或瞬态故障系统操作过程中可能发生的由于等因素……»阅读更多

怎样满足功能和Built-In-Self-Test安全要求吗
通过李哈里森- 04年6月,2020 -评论:1

与半导体的内容在今天的汽车的快速增长,集成电路设计者需要提高他们的会议过程功能由ISO 26262标准定义的安全要求。ISO 26262标准定义了功能安全的水平,被称为汽车安全完整性水平(ASIL),和是一个强制性的汽车系统设计过程的一部分。ASIL类别范围……»阅读更多

逻辑阿拉伯学者在汽车ICs的挑战
通过穆罕默德Abdelwahid- 09年7月,2019 -评论:0

客车继续增长,电子产品,大部分是受严格的ISO 26262标准的功能安全要求正式的。ICs驱动汽车的电子系统也越来越复杂,为了执行人工智能算法控制新兴的自动驾驶功能。设计师们迅速采用不如……»阅读更多

满足ISO 26262要求使用Tessent IC测试解决方案
通过导师,西门子业务- 08年7月,2019 -评论:0

作为汽车行业走向更大的自动化,供应商的集成电路用于驱动汽车电子系统正在迅速采取的解决方案,以满足ISO 26262的要求。IC测试产品的Tessent家庭提供缺陷覆盖率最高,在系统非破坏性记忆测试,混合BIST测试生成/逻辑,模拟测试覆盖度量。这些技术加t…»阅读更多

如何重塑汽车集成电路半导体测试
通过史蒂夫插座——3月22日,2018 -评论:0

新的IC市场的发展沿着整个供应链产生了涟漪。今天,我们看到的是半导体行业应对不断增长的汽车集成电路市场的需求,包括新的集成电路测试工具和方法的发展。汽车IC市场无疑是增长最快的最终用途市场CAGR为15%(根据IC的见解)。也看到很多新球员。3月…»阅读更多

提高系统测试Tessent VersaPoint测试点技术
通过导师,西门子业务2018年1月- 10 -评论:0

本文描述了一种新的通用的测试点技术称为VersaPoint,已专门处理设计开发实现混合美国东部时间/ LBIST方法减少美国模式计数,提高逻辑BIST测试覆盖率(LBIST)。VersaPoint测试点可以减少压缩模式计数2 x 4 x之外单独压缩和改善LBIST测试覆盖率超出是p…»阅读更多

芯片得到更可靠吗?
通过埃德·斯珀林——1月28日,2016 -评论:4

可靠性逐渐成为关键指标在半导体行业,除了权力,性能和成本,但它也变得难以测量和越来越难以实现。大多数大型半导体公司看看可靠性与消费设备,持续数年之前更换,但大举进军汽车、医疗和工业持续强劲表现……»阅读更多

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