如何减少美国模式计数,提高逻辑内建自测。
本文描述了一种新的通用的测试点技术称为VersaPoint,已专门处理设计开发实现混合美国东部时间/ LBIST方法减少美国模式计数,提高逻辑BIST测试覆盖率(LBIST)。VersaPoint测试点可以减少压缩模式计数2 x 4 x之外单独压缩和改善LBIST测试覆盖率超出当前行业标准算法。通过实验数据演示了这些改进工业测试用例。
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