是什么导致期望值在扫描测试改变?
Jayant D’索萨,产品经理在导师,西门子业务,解释之间的区别扫描测试和扫描诊断,导致扫描测试值改变,这可以用来磨练如何在设计失败的真正原因,以及如何更有效地利用测试硬件。
我们可以使用“设计”这个词在扫描诊断吗?每个芯片生产是不同的。每个不同的芯片,失败可能会失败?我们诊断芯片功能缺陷或制造缺陷…?
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传感器技术仍在不断发展,和功能正在被讨论。
问题包括设计、制造、包装、和可观察性都需要解决这种方法成为主流之前对于许多应用程序。
光子学、可持续发展和人工智能芯片吸引投资;157家公司筹集了超过24亿美元。
IP工业正在经历一些转换,将很难使新公司进入市场,并为那些仍然更加昂贵。
中国禁止微米芯片;北美半导体会议形成;应用材料计划40亿美元研发车间;苹果和Broadcom 5 g协议;DRAM收入下降;新的低合金互联10纳米以下。
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