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标签:扫描诊断

组合不同类型Fab数据的巨大回报
通过安妮Meixner- 2021年12月7日-评论

收集和组合来自不同制造工艺的不同数据类型可以在提高半导体产量、质量和可靠性方面发挥重要作用，但要实现这一点，需要整合来自各种不同工艺步骤的深厚领域专业知识，并筛选分散在全球供应链上的大量数据。半导体制造IC数据…»阅读更多

扫描诊断
通过埃德·斯珀林- 2019年12月20日-评论

西门子业务部门Mentor的产品经理Jayant D’souza解释了扫描测试和扫描诊断之间的区别，是什么原因导致扫描测试中的值发生变化，如何使用这一点来研究设计中失败的实际原因，以及如何更有效地利用测试硬件。»阅读更多

高效的动态分区扫描诊断
通过Jayant D’索萨- 2019年9月10日-评论:0

产品工程师肩负着提高成品率的任务，需要快速有效地找到制造ic中缺陷的位置。通常，他们使用体积扫描诊断从失败的测试周期中生成大量的数据，然后对这些数据进行分析以揭示缺陷的位置。扫描故障数据为故障分析中的许多决策提供了依据，并产生了改进。»阅读更多

使用动态分区将卷扫描诊断吞吐量提高10倍
通过Mentor是西门子旗下的企业- 2019年9月9日-评论:0

在当今的大型先进节点设计上执行卷扫描诊断对周转时间和计算资源提出了要求。本文描述了一种新技术，以最大限度地提高诊断吞吐量，同时执行更苛刻的扫描诊断。Tessent Diagnosis中的动态分区技术仅使用20%的典型内存，就可以将扫描诊断时间减少50%…»阅读更多

机器学习在扫描诊断方面的突破
通过马修·诺尔斯- 2019年5月7日-评论:0

细胞感知诊断是检测标准细胞内部缺陷的一种新的有效方法。来自一家大型铸造厂的行业标准失效分析(FA)结果表明，细胞感知诊断通过减少细胞内部缺陷数据中的可疑数量，可以非常有效地提高诊断的分辨率。随着先进的技术节点，我们有更复杂的布局结构和f…»阅读更多

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