一个聪明的技术提升10倍的体积扫描诊断吞吐量。
负责的任务提高产量,产品工程师需要找到缺陷的位置ICs快速、高效地生产。通常,他们使用体积扫描诊断从失败的测试周期生成大量数据,然后进行分析,以揭示缺陷的位置。扫描失败数据失效分析的许多决策提供了基础和产量提高。它有助于选择失败的设备物理失效分析,发现隐藏的系统故障,并帮助直接设计和制造决策,最终将提高产量。
然而,设计规模不断增长,这一趋势是不可阻挡的。除了设计规模增长,新的流程和晶体管结构出现新的缺陷模式需要cell-aware诊断的细胞内。诊断这些cell-internal缺陷模式需要更多的分析和诊断工具精确地处理的细胞内的缺陷的位置。执行体积扫描诊断在今天的大型、先进的节点设计要求过高的周转时间和计算资源。
诊断是对输入执行失败日志文件从吃(自动测试设备),连同一个设计网表和扫描模式。执行诊断所需的内存设计网表的大小成正比。分析了失败的日志和支持设计文件(诊断)使用一个计算网格并行分配他们。分配的效率取决于网格的处理资源。例如,假设你有上运行诊断设计需要100 gb的RAM和为每个诊断结果需要大约一个小时。如果你有11个网格上可用的处理器,但是只有一个有足够多的RAM来处理工作,那么所有诊断运行顺序会发生在那一台机器,和其他10闲置着。诊断吞吐量而言,这是一个函数创建一个诊断报告所需的时间和所需的内存分析,这种情况并不理想。越高的诊断可以完整,诊断价值越高(图1)。
图1所示。更高的诊断卷驱动器更高的价值。
你怎么能提高诊断的吞吐量?通过减少所需的内存或通过减少诊断时间,或两者兼而有之。有一种新技术叫做动态分区可以减少内存需求和诊断运行时通过减少输入文件大小。
它的工作原理,首先分析失败的日志,然后创建一个只包含的分区设计相关的部分失败日志。这个分区是一个新的、更小的网表,用于执行诊断。过程,因为通常只有一小部分的设计实际上是需要执行的诊断失败日志因为缺陷位于一个非常具体的设计的一部分。
例如,假设一个缺陷在设计使观测值的扫描细胞变化。这些变化转化为失败的循环试验机。还有其他扫描细胞周期的测定值匹配预期,转化为一个通过循环试验机。这些通过和失败的周期是用来确定哪些部分设计的相关缺陷被失败的日志。
失败的日志的分析和划分,诊断过程的分布,Tessent诊断服务器执行的,在你的计算网格。服务器包含分割者,基于失败日志创建更小的文件,执行实际的诊断的分析程序的分区,和监视器,瓜分者之间的坐标和分析器和智能分配诊断流程(图2)。
图2所示。自动化动态分区流。
使用多个较小的输入文件只有相关日志数据失败意味着更多的流程(无限,实际上)可以并行运行,使用更广泛的cpu,并比以往更快、更有效地得到结果。
动态分区创建解决大大减少了内存占用硬件资源限制的诊断流程执行的分析程序。启用动态分区后,较小的机器可以被用来做诊断。反过来,这导致更多的失败日志被诊断出在某一天。通常,动态分区导致内存减少5 x和一个运行时减少50%的诊断报告。
这种动态分区技术使大量扫描诊断结果可用快得多,故障诊断的整体吞吐量增加10倍。对现有Tessent诊断用户,设置动态分区流是非常容易的。动态分区的好处包括:
节省时间和计算资源在体积扫描诊断可以带来竞争优势通过减少周转时间,设备成本,提高收益更快。
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