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如何提高产量增加新节点设计和技术吗


复杂的硅缺陷类型和缺陷分布的新集成电路制造技术可能导致非常低的收益率为新设计和技术节点。在技术资格使用测试芯片,芯片的扫描链故障占大多数的失败。诊断这些扫描链缺陷是一种强大的方法发现新的和系统的缺陷。芯片制造商的目标是……»阅读更多

小说可逆链诊断提高分辨率


收益率增加ICs设计先进的处理技术面临新的挑战,因为很复杂的硅缺陷类型和缺陷分布。产量增加和产量提高不只是关于盈利能力和投放市场的时间,但也有一个角色在今天的电子供应链危机。这意味着收益率坡道不仅影响IC制造商,但全球经济。曾经……»阅读更多

高效和动态分区扫描诊断


负责的任务提高产量,产品工程师需要找到缺陷的位置ICs快速、高效地生产。通常,他们使用体积扫描诊断从失败的测试周期生成大量数据,然后进行分析,以揭示缺陷的位置。扫描失败数据失效分析的许多决策提供了基础和产量即兴表演……»阅读更多

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