来自佛罗里达大学佛罗里达网络安全研究所(FICS)的研究人员发表了这篇题为“FICS PCB x射线:用于自动印刷电路板层间检查的数据集”的技术论文。
摘要
“多年来，计算机视觉和机器学习的进步为印刷电路板(pcb)的自动x射线检测(AXI)铺平了道路。然而，由于缺乏PCB x射线检查的公开可用数据集，没有标准数据集来验证实践中这种进步的能力和局限性。此外，缺乏包含x射线计算机断层扫描(CT)图像的多种PCB x射线数据集。为了解决数据缺乏的问题，我们开发了第一个全面的公开可用数据集“FICS PCB x射线”，以帮助开发强大的PCB- axis方法。该数据集包括来自层析图像域的各种图像，以及pcb未对齐的原始x射线数据的挑战性案例。此外，数据集包含投影数据和重构体，重构体被转换成Tiff堆栈。注释的x射线层图像也可用于图像处理和机器学习任务。本文总结了现有数据库及其局限性，提出了一个新的数据集“FICS PCB x射线”。
找到这里是技术文件。2022年7月出版。
作者:Dhwani Mehta、John True、Olivia P. Dizon-Paradis、Nathan Jessurun、Damon L. Woodard、Navid Asadizanjani和Mark Tehranipoor
FICS PCB x -射线:一种自动化印刷电路板层间检测的数据集，密码学电子文献，2022/ 924,2022,https://eprint.iacr.org/2022/924
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