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从芯片内部监控性能

为什么在芯片的整个生命周期中跟踪潜在故障是至关重要的。

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在芯片内部而不是外部生成的深度数据,在每个新的工艺节点和高级封装中变得越来越重要。proteanTecs首席战略官Uzi Baruch与Semiconductor Engineering讨论了使用这些数据在现场导致故障之前识别潜在问题,以及为什么在整个预期生命周期内监控这些设备是至关重要的。



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